[发明专利]一种显示面板亮度均匀度的测量方法及装置在审
| 申请号: | 202310824637.1 | 申请日: | 2023-07-06 |
| 公开(公告)号: | CN116577074A | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
| 发明(设计)人: | 刘洒;杨楷;杨阳;林松 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01J3/50;G01J1/16;G06T7/00;G06T7/90;G06T7/11 |
| 代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 方可 |
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 显示 面板 亮度 均匀 测量方法 装置 | ||
本发明提供一种显示面板亮度均匀度的测量方法及装置,属于光学检测技术领域,所述方法包括:根据显示面板上每个点位区域的多个亮度值和多个灰度值,分别确认每个点位区域对应的平均亮度值和平均灰度值;对每个点位区域的平均亮度值与平均灰度值进行数据拟合,获取每个点位区域的平均亮度值与平均灰度值的线性拟合关系;根据每个点位区域的灰度值以及线性拟合关系,确定每个点位区域的真实亮度值;根据每个点位区域的真实亮度值,确定所述显示面板的亮度均匀度。本发明采集每个点位区域的灰度值、亮度值,可得到每个点位区域对应的线性拟合关系,继而可由灰度值得到点位区域的真实亮度值,实现显示面板的亮度均匀度测量,方法简洁且精度较高。
技术领域
本发明涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种显示面板亮度均匀度的测量方法及装置。
背景技术
自动光学检测(Automated Optical Inspection,AOI)系统在工业中应用广泛,它可以代替人来完成一系列具有高度重复性和有一定风险的工作,具有速度快、精度高、可靠性好、无接触无损、性价比高和通用性强等特点,提高了产线的生产效率。其中,显示面板的检测精度在面板制造中尤为重要,缺陷检测算法作为面板缺陷检测系统的核心,其检测效果直接决定了客户的满意度。
近年来,随着面板检测要求的不断提升,OLED显示面板的亮色度测量需求也原来越多。在显示面板行业中,产线中现有的测量面板亮度均匀度一般使用亮度计(仪)、CA410等标准计量仪器,相比于普通工业相机,标准计量仪器成本较高,在一些亮度测量精度不是特别高的场合,标准测量仪器的精度优势也没有完全利用起来,从而导致难以实现显示面板的亮度均匀性的高精度测量。
发明内容
本发明提供一种显示面板亮度均匀度的测量方法及装置,用以解决现有技术中标准计量仪器成本较高,在一些亮度测量精度不是特别高的场合,标准测量仪器的精度优势也没有完全利用起来的缺陷。
第一方面,本发明提供一种显示面板亮度均匀度的测量方法,包括:根据显示面板上每个点位区域的多个亮度值和多个灰度值,分别确认每个点位区域对应的平均亮度值和平均灰度值;对每个点位区域的平均亮度值与平均灰度值进行数据拟合,获取每个点位区域的平均亮度值与平均灰度值的线性拟合关系;根据每个点位区域的灰度值以及线性拟合关系,确定每个点位区域的真实亮度值;根据每个点位区域的真实亮度值,确定所述显示面板的亮度均匀度。
根据本发明提供的一种显示面板亮度均匀度的测量方法,在每个线性拟合关系均为正比例函数关系的情况下,确定每个点位区域的平均灰度值与真实亮度值之间的转换系数;相应地,根据每个点位区域的灰度值以及线性拟合关系,确定每个点位区域的真实亮度值,包括:将每个点位区域的灰度值与转换系数的乘积,作为每个点位区域的真实亮度值。
根据本发明提供的一种显示面板亮度均匀度的测量方法,所述根据每个点位区域的真实亮度值,确定所述显示面板的亮度均匀度,包括:从所有点位区域的真实亮度值中,确定出最大真实亮度值和最小真实亮度值;将所述最小真实亮度值与所述最大真实亮度值的比值,作为所述显示面板的亮度均匀度。
根据本发明提供的一种显示面板亮度均匀度的测量方法,在根据显示面板上每个点位区域的多个亮度值和多个灰度值,分别确认每个点位区域对应的平均亮度值和平均灰度值之前,包括:获取所述显示面板的图像,以及显示面板上每个点位区域的亮度值;所述亮度值的测量误差小于预设阈值;基于所述显示面板的图像,确定所述显示面板上每个点位区域的灰度值。
根据本发明提供的一种显示面板亮度均匀度的测量方法,所述显示面板上的点位区域被配置为:每个点位区域对应所述显示面板的一个显示子区域,并且,所有显示子区域正好构成所述显示面板的全部显示区域。
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