[发明专利]一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法

权利要求书

1.一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法，其特征在于，实现所述方法的具体步骤如下：

步骤一、组建光线测量系统，光线测量系统包括圆柱体光学元件和图像传感器，圆柱体光学元件的光线入射面采集光线，圆柱体光学元件的侧面设置吸光层，圆柱体光学元件的光线出射面与图像传感器的感光元件图层平行且一体化；

步骤二、图像传感器感知圆柱体光学元件的光线出射面的光线，识别光线面域，采用微分方式，将光线的面域微分为光线线段，并进行二值化，遍历二值图像中的每个像素点，测量光线线段的长度；

步骤三，选择任意一条光线线段作为起始光线线段，与起始光线线段平行的光线线段为第一类微分光线线段，圆柱体光学元件出射面的转动方向与起始光线线段垂直，在变动的面域中，形成第一类积分光线面域（101），找到与起始光线线段平行且最长的第一类最长光线线段；

步骤四、在光线的面域中，以第一类最长光线线段为基准线，采用垂直第一类最长光线线段的第二类微分光线线段，光线测量面的转动方向与第一类最长光线线段平行，在变动的面域中，形成第二类积分光线面域（201），找到与第一类最长光线线段垂直且最长的第二类最长光线线段；

步骤五、将测量的第一类最长光线线段与测量的第二类最长光线线段调整到同一面域内，形成圆形面域，入射光线与圆柱体光学元件的光线入射面垂直，采用面面平行的方式，将热电联供受光面调整到与圆柱体光学元件的光线入射面平行，入射光线与热电联供受光面垂直。

2.根据权利要求1所述的一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法，其特征在于：在步骤三中，第一类积分光线面域（101）是对第一类微分光线线段的积分。

3.根据权利要求2所述的一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法，其特征在于：在步骤三中，第一类积分光线面域（101）是椭圆。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法，其特征在于：在步骤三中，在第一类积分光线面域（101）内，测量到最长的第一类最长光线线段X_max（103）。

5.根据权利要求1所述的一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法，其特征在于：在步骤四中，第二类积分光线面域（201）是对第二类微分光线线段的积分。

6.根据权利要求5所述的一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法，其特征在于：在步骤四中，第二类积分光线面域（201）是椭圆。

7.根据权利要求5至6任意一项所述的一种测量光线长度确定热电联供受光面方位的方法，其特征在于：在步骤四中，在第二类积分光线面域（201）内，测量到最长的第二类最长光线线段Y_max（203）。