[发明专利]一种LED晶粒外观检测装置

说明书

本发明公开了一种LED晶粒外观检测装置，包括支架，支架的上表面固定连接防尘罩，防尘罩的内上表面固定连接有喷头，防尘罩的内上表面固定连接有密封器，密封器的内部滑动连接有活塞，密封器的圆周面设置有进气单向阀和排气单向阀，且进气单向阀的一端和喷头上表面之间固定连接有连接管，支架的内部转动连接有转杆，转杆的圆周面之间传动连接有运输带，本发明中，方便使用者进行安装LED晶粒并可以精准的将LED晶粒送至检测仪的下方从而可以自动进行检测，减轻了工作人员检测的工作强度从而可以提高工作人员对LED晶粒检测的效率，并且可以通过喷头对LED晶粒表面进行清理，从而避免LED晶粒表面含有灰尘从而影响检测结果。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，具体涉及一种LED晶粒外观检测装置。

背景技术

LED晶粒在晶片上创建后，必须检验是否有表明缺陷，例如裂缝、碎片和黑点，因为这些缺陷可能会对LED的质量和性能产生负面影响。因为这些类型的缺陷各有差异，并且可能出现在各种位置，所以使用基于规则的机器视觉无法进行高速检验。此外，由于不影响LED质量的正常畸变也会出现，所以系统务必忽略这些微小的缺陷。鉴于每天处理的LED晶粒的大小和数量，人工检查既不高效也不实用。

LED晶粒外观检测主要是LED晶粒外观完整性的检测，目前通常用全自动的外观检测设备进行外观质检，但是，现有技术中，LED晶粒外观检测设备存在以下问题：在对LED晶粒外观检测检测时，LED晶粒外观覆盖灰尘容易影响检测结果，并且在进行下料操作时，需要工作人员将合格和不合格的LED晶粒进行筛选放置，当需要LED晶粒较多时，容易造成工作人员疲惫的问题。

发明内容

为了克服上述的技术问题，本发明的目的在于提供一种LED晶粒外观检测装置来解决在对LED晶粒外观检测检测时，LED晶粒外观覆盖灰尘容易影响检测结果，并且在进行下料操作时，需要工作人员将合格和不合格的LED晶粒进行筛选放置，当需要LED晶粒较多时，容易造成工作人员疲惫的问题。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

一种LED晶粒外观检测装置，包括支架，所述支架的上表面固定连接防尘罩，所述防尘罩的内上表面固定连接有喷头，所述防尘罩的内上表面固定连接有密封器，所述密封器的内部滑动连接有活塞，所述密封器的圆周面设置有进气单向阀和排气单向阀，且进气单向阀的一端和喷头上表面之间固定连接有连接管，所述支架的内部转动连接有转杆，所述转杆的圆周面之间传动连接有运输带，所述运输带的上表面固定连接有多个放置架，所述放置架的内部滑动连接有移动板，所述移动板的一端设置有限位杆，所述移动板的上表面固定连接有顶杆，所述支架的上表面固定连接有限位板，所述限位板的内部设置有限位槽，所述防尘罩的内部外表面设置有传动机构，所述活塞通过传动机构驱动转杆间歇转动，所述防尘罩的一端设置有下料机构。

进一步在于：所述传动机构包括转动连接在防尘罩上表面的转盘，所述转盘的上表面转动连接有连杆，且连杆的另一端和活塞的一端转动连接，所述支架的一侧转动连接有驱动轮，所述转杆的一端固定连接有从动轮。

进一步在于：所述传动机构还包括固定连接在防尘罩的一侧的第一电机，所述第一电机的输出段和转盘的圆周面均固定连接有第一带轮，所述电机的另一输出端固定连接有蜗杆，所述防尘罩的一侧转动连接有蜗轮，且蜗轮和蜗杆相互啮合，所述蜗轮的转动端和驱动轮的转动端均固定连接有第二带轮，且第二带轮之间、第一带轮之间通过皮带传动连接。

进一步在于：所述限位杆的两端分别在限位槽的内部滑动连接，且限位杆的尺寸和限位槽的尺寸相匹配，所述限位槽包括上升段、平行段和下降段。

进一步在于：所述放置板的内部设置有放置槽，所述移动板的上表面和放置架的内壁之间固定连接有弹簧。

进一步在于：所述下料机构包括固定连接在防尘罩一端的第二电机，所述第二电机的输出端固定连接有推板。