[发明专利]一种LED晶粒外观检测装置

权利要求书

1.一种LED晶粒外观检测装置，其特征在于，包括支架(1)，所述支架(1)的上表面固定连接防尘罩(33)，所述防尘罩(33)的内上表面固定连接有喷头(21)，所述防尘罩(33)的内上表面固定连接有密封器(17)，所述密封器(17)的内部滑动连接有活塞(18)，所述密封器(17)的圆周面设置有进气单向阀(23)和排气单向阀(19)，且进气单向阀(23)的一端和喷头(21)上表面之间固定连接有连接管(20)，所述支架(1)的内部转动连接有转杆(2)，所述转杆(2)的圆周面之间传动连接有运输带(3)，所述运输带(3)的上表面固定连接有多个放置架(4)，所述放置架(4)的内部滑动连接有移动板(6)，所述移动板(6)的一端设置有限位杆(8)，所述移动板(6)的上表面固定连接有顶杆(7)，所述支架(1)的上表面固定连接有限位板(11)，所述限位板(11)的内部设置有限位槽(12)，所述防尘罩(33)的内部外表面设置有传动机构，所述活塞(18)通过传动机构驱动转杆(2)间歇转动，所述防尘罩(33)的一端设置有下料机构。

2.根据权利要求1所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述传动机构包括转动连接在防尘罩(33)上表面的转盘(15)，所述转盘(15)的上表面转动连接有连杆(16)，且连杆(16)的另一端和活塞(18)的一端转动连接，所述支架(1)的一侧转动连接有驱动轮(26)，所述转杆(2)的一端固定连接有从动轮(27)。

3.根据权利要求2所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述传动机构还包括固定连接在防尘罩(33)的一侧的第一电机(13)，所述第一电机(13)的输出段和转盘(15)的圆周面均固定连接有第一带轮(14)，所述电机的另一输出端固定连接有蜗杆(22)。

4.根据权利要求3所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述防尘罩(33)的一侧转动连接有蜗轮(24)，且蜗轮(24)和蜗杆(22)相互啮合，所述蜗轮(24)的转动端和驱动轮(26)的转动端均固定连接有第二带轮(25)，且第二带轮(25)之间、第一带轮(14)之间通过皮带传动连接。

5.根据权利要求1所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述限位杆(8)的两端分别在限位槽(12)的内部滑动连接，且限位杆(8)的尺寸和限位槽(12)的尺寸相匹配，所述限位槽(12)包括上升段(121)、平行段(122)和下降段(123)。

6.根据权利要求1所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述放置板的内部设置有放置槽(5)，所述移动板(6)的上表面和放置架(4)的内壁之间固定连接有弹簧(9)。

7.根据权利要求4所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述下料机构包括固定连接在防尘罩(33)一端的第二电机(28)，所述第二电机(28)的输出端固定连接有推板(29)。

8.根据权利要求7所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述防尘罩(33)的前面固定连接有控制器(31)，所述防尘罩(33)的内上表面固定连接有检测仪(32)，所述第一电机(13)、第二电机(28)、检测仪(32)均和控制器(31)电性连接。

9.根据权利要求1所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于，所述支架(1)的上表面固定连接有挡板(30)，所述挡板(30)的一端和放置架(4)的两侧均为倾斜设置，且倾斜角度相同，所述挡板(30)的竖直段为弹性材料制成。

10.一种基于权利要求1-9任一项所述的LED晶粒外观检测装置进行检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：通过控制器(31)驱动第一电机(13)、第二电机(28)、检测仪(32)进行通电工作；

S2：将种LED晶粒对应放置槽(5)定位放在放置架(4)的内部；

S3：第一电机(13)通过传动机构驱动驱动轮(26)带动从动轮(27)间歇转动将放置架(4)送至喷头(21)的下方，密封器(17)通过连接管(20)送入清洁气流对LED晶粒表面进行清理操作，清洁完成后，放置架(4)运动至检测仪(32)下进行检测操作，检测仪(32)利用机器视觉来对LED晶粒的缺陷进行检测，机器视觉包括图像采集单元和图像处理单元，通过图像采集单元采集被测LED晶粒的图像，然后通过图像处理单元对图像进行处理，并最终得到LED晶粒的缺陷情况；

S4：检测仪(32)进行分析LED晶粒表面是否发生损坏，当放置架(4)运动出防尘罩(33)的一端后，此时顶杆(7)将LED晶粒顶出，当LED晶粒发生损坏后，第二电机(28)转动将推板(29)反转将LED晶粒推至一侧，当LED晶粒未损坏，第二电机(28)带动推板(29)正转来将LED晶粒推至相反一侧进行收集。