[发明专利]InSAR相位时序处理方法、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202310348860.3 | 申请日: | 2023-04-03 |
公开(公告)号: | CN116482683A | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 穆景涵;张奎;刘书君;龚发明;成子林;成彦达;肖尧禹 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 黄宗波 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | insar 相位 时序 处理 方法 电子设备 存储 介质 | ||
本申请提供一种InSAR相位时序处理方法、电子设备及存储介质。方法包括:从N+1幅准好的SAR图像中选取目标干涉对,每个目标干涉对包括两幅可干涉且基线值小于等于预设基线阈值的SAR图像;基于目标干涉对,形成基线子集;对每个基线子集中的每个目标干涉对进行差分干涉处理,得到差分干涉图;根据预设的解缠算子对从差分干涉图选取的高相干像元进行相位解缠处理,得到解缠结果;对解缠结果进行滤波;基于滤波后的解缠结果,建立目标干涉对中两幅SAR图像的形变模型;通过岭回归算法,对形变模型进行数据反演,得到目标干涉对中两幅SAR图像的形变结果。如此,有利于提高模型的稳定性和鲁棒性,以及提高形变监测的精度和可靠性。
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,具体而言,涉及一种InSAR相位时序处理方法、电子设备及存储介质。
背景技术
差分干涉测量短基线集时序分析技术(Small BAseline Subset-Interferometric Synthetic Aperture Radar,SBAS-InSAR)是一种时间序列合成孔径雷达差分干涉测量(DInSAR)技术,该技术是将获得的所有合成孔径雷达(SyntheticAperture Radar,SAR)图像分成若干个集合。在每个子集内可利用最小二乘(LeastSquares,LS)法来获得地表形变的时间序列,但是在单个集合内的时间采样率不够。目前,可以借助奇异值分解法将多个短基线子集联合起来求解,得到未知参数的最小二乘最小范数解。但是,奇异值分解法是基于广义逆求解的一种方式,在形变模型存在复共线性问题时广义逆求解稳定性较差,因此当所有干涉对序列属于不同集合时,采用奇异值分解法求解SBAS线性形变模型在实际应用中很难实现高精度的广义逆求解来保证形变监测结果的精度和可靠性。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例的目的在于提供一种InSAR相位时序处理方法、电子设备及存储介质,能够改善在利用SAR图像进行形变监测时存在精度和可靠性不足的问题。
为实现上述技术目的,本申请采用的技术方案如下:
第一方面,本申请实施例提供了一种InSAR相位时序处理方法,所述方法包括:
获取配准好的N+1幅SAR图像,其中,所述N+1幅SAR图像中的每幅图像存在至少一幅可干涉的SAR图像,N为大于1的整数;
从所述N+1幅SAR图像中选取目标干涉对,每个所述目标干涉对包括两幅可干涉且基线值小于等于预设基线阈值的SAR图像;
基于所述目标干涉对,形成基线子集,其中,每个所述基线子集包括可接连干涉的多幅SAR图像;
对每个所述基线子集中的每个目标干涉对进行差分干涉处理,得到差分干涉图;
根据预设的解缠算子对从所述差分干涉图选取的高相干像元进行相位解缠处理,得到解缠结果,所述解缠结果包括所述高相干像元解缠后的干涉相位;
对所述解缠结果进行滤波,得到滤波后的解缠结果;
基于所述滤波后的解缠结果,建立所述目标干涉对中两幅SAR图像的形变模型;
通过岭回归算法,对所述形变模型进行数据反演,得到所述目标干涉对中两幅SAR图像的形变结果。
结合第一方面,在一些可选的实施方式中,在获取配准好的N+1幅SAR图像之前,所述方法还包括:
根据时间序列依次获得N+1幅待配准SAR图像;
从所述N+1幅待配准SAR图像中选取任一图像作为主图像,其他图像为辅图像,其中,所述其他图像为所述N+1幅待配准SAR图像中除去所述主图像之外的图像;
对所述主图像和所述辅图像进行图像配准,得到N+1幅配准好的SAR图像。
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