[发明专利]一种用于微流控芯片的检测方法

说明书

本发明公开了一种用于微流控芯片的检测方法，包括取出注塑成型的微流控芯片，先由检测人员进行目测缺陷，先对微流控芯片进行初步筛选；然后通过排列好的激光发射器以及激光接收装置对微流控芯片进行检测；在检测过程中，激光接收装置实时将检测数据传输到分析设备进行计算并记录，再通过与预设数据进行比对，实现对微流控芯片的检测；本发明的用于微流控芯片的检测方法构思巧妙，使用方便，采用激光折射的方式对微流控芯片进行检测，可以更精细的检测出一些人眼无法检测出的缺陷，确保微流控芯片可以正常使用；并且在用激光检测前，先通过人工进行检测，将具有较大缺陷的微流控芯片先剔出，提高检测速度，保证更好的检测效率。

技术领域

本发明涉及微流控芯片的生产技术领域，具体涉及一种用于微流控芯片的检测方法。

背景技术

微流控芯片技术是把生物、化学、医学分析过程的样品制备、反应、分离、检测等基本操作单元集成到一块微米尺度的芯片上，自动完成分析全过程。由于它在生物、化学、医学等领域的巨大潜力，已经发展成为一个生物、化学、医学、流体、电子、材料、机械等学科交叉的崭新研究领域。

高分子聚合物（PDMS）是一种用于制作微流控芯片的模型胶，它加工成型方便，原材料成本低，适于大批量制作。通过在微流控芯片复形模具上浇注液态高聚物，待其固化后将其与模具剥离，便能在高聚物表面形成与模具一致的图案。

目前常用的成型方法是，在模具中注入PDMS，通过注塑成型半成品，然后再对办成品进行光刻；或者直接向装有模板的模具内倒入PDMS，等待冷却固化，再用小刀切割得到芯片。

而由于微流控芯片的流道都比较窄，在注塑成型的过程中由于注塑液表面具有张力会使注塑液无法很好的贴合到模具表面，导致微流控芯片的流道表面凹凸不平，产品质量不合格，使用效果受到极大的影响；但是由于流道较为细小，且微流控芯片整体为透明，人眼无法很好的观测到这些缺陷，不仅影响生产效率，而且对产品的出货合格率造成极大的影响。

基于上述情况，本发明提出了一种用于微流控芯片的检测方法，可有效解决以上一种或多种问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于微流控芯片的检测方法。

本发明通过下述技术方案实现：

一种用于微流控芯片的检测方法，包括以下步骤：

步骤S1：取出注塑成型的微流控芯片，先由检测人员进行目测缺陷，先对微流控芯片进行初步筛选；

步骤S2：根据微流控芯片的宽度排列若干个激光发射器，再将筛选合格后的微流控芯片放置在激光发射器的下方，并在微流控芯片下方设置激光接收装置；激光发射器和激光接收装置均与分析设备连接；

步骤S3：调整激光发射器的发射角度，确保激光以入射角为0°~45°射入微流控芯片中；

步骤S4：先启动激光接收装置，再打开激光发射器，随后匀速推动微流控芯片或者激光发射器和激光接收装置实现激光对微流控芯片的扫描检测；

步骤S5：在扫描检测的过程中，激光接收装置实时将激光在激光接收装置所接收到的位置传输到分析设备上，并记录数据；

步骤S6：将步骤S5中记录的数据与初始数据进行对比，得到扫描过程中激光在激光接收装置上的偏移量；

步骤S7：通过步骤S6中得到的偏移量，计算出此时激光射入处的微流控芯片的厚度并记录；

步骤S8：待扫描检测结束后，分析设备将计算出的厚度与检测前导入分析设备的微流控芯片数据进行比对；若厚度有偏差，即该微流控芯片不合格；

步骤S9：检测完成，并对不合格的微流控芯片进行标记。