[发明专利]一种用于微流控芯片的检测方法在审
| 申请号： | 202310258978.7 | 申请日： | 2023-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN116223383A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 王根年;谢敏 | 申请（专利权）人： | 东莞市纳百医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/95;G01N21/954;G01B11/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 523740 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 微流控 芯片 检测 方法 | ||
1.一种用于微流控芯片的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤S1：取出注塑成型的微流控芯片，先由检测人员进行目测缺陷，先对微流控芯片进行初步筛选；
步骤S2：根据微流控芯片的宽度排列若干个激光发射器，再将筛选合格后的微流控芯片放置在激光发射器的下方，并在微流控芯片下方设置激光接收装置；激光发射器和激光接收装置均与分析设备连接；
步骤S3：调整激光发射器的发射角度，确保激光以入射角为0°~45°射入微流控芯片中；
步骤S4：先启动激光接收装置，再打开激光发射器，随后匀速推动微流控芯片或者激光发射器和激光接收装置实现激光对微流控芯片的扫描检测；
步骤S5：在扫描检测的过程中，激光接收装置实时将激光在激光接收装置所接收到的位置传输到分析设备上，并记录数据；
步骤S6：将步骤S5中记录的数据与初始数据进行对比，得到扫描过程中激光在激光接收装置上的偏移量；
步骤S7：通过步骤S6中得到的偏移量，计算出此时激光射入处的微流控芯片的厚度并记录；
步骤S8：待扫描检测结束后，分析设备将计算出的厚度与检测前导入分析设备的微流控芯片数据进行比对；若厚度有偏差，即该微流控芯片不合格；
步骤S9：检测完成，并对不合格的微流控芯片进行标记。
2.根据权利要求1所述的用于微流控芯片的检测方法，其特征在于：在步骤S3中，调整激光发射器的发射角度，确保激光以入射角为5°~25°射入微流控芯片中。
3.根据权利要求1所述的用于微流控芯片的检测方法，其特征在于：在步骤S5中，激光接收装置每隔1~10ms将激光在激光接收装置所接收到的位置传输到分析设备上。
4.根据权利要求3所述的用于微流控芯片的检测方法，其特征在于：分析设备在扫描启动时会建立一个单独的存档，并在该存档内记录该微流控芯片扫描检测时输入的每一条数据，该数据包含扫描时刻、该时刻下激光接收装置所记录的位置、该时刻下激光在激光接收装置上的偏移量以及该时刻下激光射入处的微流控芯片的厚度。
5.根据权利要求4所述的用于微流控芯片的检测方法，其特征在于：在步骤S6和S7中，分析设备在接收到数据后先与之前的数据进行对比；若之前并无相同数据则与初始数据进行对比；若之前有相同数据，则直接进行调用。
6.根据权利要求1所述的用于微流控芯片的检测方法，其特征在于：在检测过程中可对激光的入射角进行调整后再次进行步骤S4~S9的操作。
7.根据权利要求1所述的用于微流控芯片的检测方法，其特征在于：在检测过程中可对激光的颜色进行变更后再次进行步骤S4~S9的操作。
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