[发明专利]一种多波段探测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202310182764.6 申请日: 2023-02-27
公开(公告)号: CN116222772A 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 谷升阳;魏亚飞;曾昱博 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01J3/26 分类号: G01J3/26;G01J3/45;G01J3/28
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 胡琦旖
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 波段 探测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种多波段探测装置,其特征在于,包括:滤波片、标准具和探测器;所述滤波片划分为多个区域,每个区域仅允许某一特定波段光通过,不同区域允许通过的波段均不同;所述标准具用于形成干涉环;所述探测器用于成像得到干涉图。

2.根据权利要求1所述的多波段探测装置,其特征在于,所述滤波片划分为第一区域、第二区域和第三区域,所述第一区域仅允许通过630.0nm波段的光,所述第二区域仅允许通过557.7nm波段的光,所述第三区域仅允许通过892.0nm波段的光。

3.根据权利要求1所述的多波段探测装置,其特征在于,所述滤波片划分为第一区域、第二区域、第三区域和第四区域,所述第一区域仅允许通过630.0nm波段的光,所述第二区域仅允许通过557.7nm波段的光,所述第三区域仅允许通过732.0nm波段的光,所述第四区域仅允许通过892.0nm波段的光。

4.根据权利要求1所述的多波段探测装置,其特征在于,还包括:透镜组;所述透镜组用于使入射光依次通过所述滤波片、所述标准具后由所述探测器接收。

5.根据权利要求1所述的多波段探测装置,其特征在于,还包括:透镜组;所述透镜组用于使入射光依次通过所述标准具、所述滤波片后由所述探测器接收。

6.根据权利要求1所述的多波段探测装置,其特征在于,还包括:恒温箱;所述标准具置于所述恒温箱内,所述恒温箱用于为所述标准具提供恒温环境。

7.根据权利要求1所述的多波段探测装置,其特征在于,还包括:入射调整单元;所述入射调整单元用于调整入射光的方向。

8.根据权利要求7所述的多波段探测装置,其特征在于,所述入射调整单元包括电机和第一平面镜;所述电机用于控制调节所述第一平面镜的朝向,以探测不同方向的风场和温度;所述第一平面镜用于改变入射光的方向。

9.根据权利要求1所述的多波段探测装置,其特征在于,所述探测器采用CCD相机。

10.一种多波段探测方法,其特征在于,利用如权利要求1-9中任一项所述的多波段探测装置中的滤波片同时对多个不同的波段进行滤波,多个波段的光同时通过所述滤波片后形成干涉图。

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