[发明专利]一种保护膜触控功能影响程度的测试方法

说明书

本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质。所述测试方法，包括：获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。本申请的测试方法，能够直观地评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，进而为显示触控屏配置更合适地保护膜，以让显示触控屏触控效果更好。

技术领域

本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科学技术的发展，显示触控屏的使用越来越广泛，已经成为人们日常生活中的必备之一，为了防止移动终端的屏幕刮花或者破损，往往会使用一些保护膜贴在显示触控屏上面。

然而，贴覆不同的保护膜在使用时会对显示触控屏的触控功能造成不同的影响，现有技术多通过使用显示触控屏时的感受去评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，然而这种方式只是主观感受，并不能清楚具体的知道不同保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度到底是多少，评估效果差，不利于为显示触控屏适配合适的保护膜。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足，本申请的目的在于提供一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质，以直观评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度。

为实现上述目的，本申请提供一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：

获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；

在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；

再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；

基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。

进一步地，所述测试方法还包括：

基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。

进一步地，所述点位数量包括9、13和25中的任意一种。

进一步地，所述点位位置包括均匀设置在所述显示触控屏模组常用区域的点位。

进一步地，所述测试方法还包括：

基于预设的触控功能影响度指标和所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述待测试保护膜进行评估。

进一步地，所述测试方法还包括：

基于所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述显示触控屏模组进行容值补偿。

进一步地，通过所述显示触控屏模组的测试工具获取电容值。

为实现上述目的，本申请提供一种保护膜触控功能影响程度的测试装置，包括：

电容值获取模块，用于获取显示触控屏模组无保护膜状态下若干点位的无膜电容参考值和有保护膜状态下所述若干点位的点位的有膜电容参考值；

数据处理模块，用于对所述无膜电容参考值和有膜电容参考值做处理分析，以得到保护膜的触控功能影响度值。

为实现上述目的，本申请提供的电子设备，包括：

处理器；

存储器，包括一个或多个计算机程序模块；