[发明专利]一种保护膜触控功能影响程度的测试方法

权利要求书

1.一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：

获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；

在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；

再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；

基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。

2.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。

3.根据权利要求2所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述点位数量包括9、13和25中的任意一种。

4.根据权利要求2所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述点位位置包括均匀设置在所述显示触控屏模组常用区域的点位。

5.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

基于预设的触控功能影响度指标和所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述待测试保护膜进行评估。

6.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

基于所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述显示触控屏模组进行容值补偿。

7.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，通过所述显示触控屏模组的测试工具获取电容值。

8.一种保护膜触控功能影响程度的测试装置，其特征在于，包括：

电容值获取模块，用于获取显示触控屏模组无保护膜状态下若干点位的无膜电容参考值和有保护膜状态下所述若干点位的点位的有膜电容参考值；

数据处理模块，用于对所述无膜电容参考值和有膜电容参考值做处理分析，以得到保护膜的触控功能影响度值。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

存储器，包括一个或多个计算机程序模块；

其中，所述一个或多个计算机程序模块被存储在所述存储器中并被配置为由所述处理器执行，所述一个或多个计算机程序模块用于实现权利要求1-7任一项所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机指令，当计算机指令运行时执行权利要求1-7任一项所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法的步骤。