[发明专利]图像纹理特征的处理方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310016918.4 申请日: 2023-01-06
公开(公告)号: CN116152516A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 向国徽;曾定衡;蒋宁;夏粉 申请(专利权)人: 马上消费金融股份有限公司
主分类号: G06V10/44 分类号: G06V10/44;G06V10/80
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;冯建基
地址: 401121 重庆市渝北区*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 图像 纹理 特征 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种图像纹理特征的处理方法,其特征在于,包括:

针对原始图像执行多次下采样操作,得到多个采样图像;其中,不同采样图像对应的下采样次数不同;

从所述多个采样图像中提取至少两个采样图像作为目标采样图像,针对每个目标采样图像执行纹理特征提取操作,得到每个目标采样图像的初始纹理特征;

将每个目标采样图像的初始纹理特征输入对应的纹理增强模块,通过所述纹理增强模块中包含的至少一级卷积增强子模块进行至少一次增强处理,得到每个目标采样图像的增强纹理特征;其中,每个目标采样图像对应于一个纹理增强模块,且每个纹理增强模块中包含的卷积增强子模块的级数与对应的目标采样图像的下采样次数成反比;

针对至少两个目标采样图像的增强纹理特征进行特征融合处理,得到所述原始图像的融合纹理特征。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述纹理增强模块中包含的至少一级卷积增强子模块进行至少一次增强处理,得到每个目标采样图像的增强纹理特征包括:

获取第i级纹理特征,由第i级卷积增强子模块中的第i卷积核对所述第i级纹理特征执行卷积增强运算,得到第i级卷积增强特征;

判断所述第i级卷积增强子模块是否为所述纹理增强模块中的最后一级卷积增强子模块;

若否,将所述第i级卷积增强特征作为第i+1级纹理特征输入所述纹理增强模块中包含的第i+1级卷积增强子模块,并将i的取值更新为i+1,继续执行由第i级卷积增强子模块中的第i卷积核对所述第i级纹理特征执行卷积增强运算,得到第i级卷积增强特征的步骤及其后续步骤;

若是,将所述第i级卷积增强特征作为所述纹理增强模块输出的目标采样图像的增强纹理特征;其中,i为自然数,且i为1时,第1级纹理特征为所述目标采样图像的初始纹理特征。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取第i级纹理特征,由第i级卷积增强子模块中的第i卷积核对所述第i级纹理特征执行卷积增强运算,得到第i级卷积增强特征包括:

获取第i级纹理特征,将所述第i级纹理特征划分为多个分组;所述第i级纹理特征具有N个通道;N为自然数;

通过第i卷积核对所述第i级纹理特征执行卷积运算,得到第i级卷积特征,将得到的第i级卷积特征划分为多个分组;所述第i级卷积特征具有N个通道;N为自然数;

针对多个分组的第i级纹理特征与第i级卷积特征执行分组拼接处理,得到第i级分组拼接特征;所述第i级分组拼接特征具有2*N个通道;

针对所述第i级分组拼接特征执行通道融合处理,得到通道融合后的第i级卷积增强特征;其中,通道融合后的第i级卷积增强特征具有N个通道。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述第i+1级卷积增强子模块中的第i+1卷积核的尺寸大于所述第i级卷积增强子模块中的第i卷积核的尺寸。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述目标采样图像包括:下采样n1次得到的浅层采样图像、下采样n2次得到的中层采样图像、下采样n3次得到的深层采样图像以及下采样n4次得到的顶层采样图像;其中,n1小于n2,n2小于n3,n3小于n4;

并且,所述顶层采样图像对应的纹理增强模块中包含卷积核尺寸为1*1的一级卷积增强子模块;

所述深层采样图像对应的纹理增强模块中包括:卷积核尺寸为1*1的第一级卷积增强子模块、卷积核尺寸为3*3的第二级卷积增强子模块;

所述中层采样图像对应的纹理增强模块中包括:卷积核尺寸为1*1的第一级卷积增强子模块、卷积核尺寸为3*3的第二级卷积增强子模块、卷积核尺寸为5*5的第三级卷积增强子模块;

所述浅层采样图像对应的纹理增强模块中包括:卷积核尺寸为1*1的第一级卷积增强子模块、卷积核尺寸为3*3的第二级卷积增强子模块、卷积核尺寸为5*5的第三级卷积增强子模块、卷积核尺寸为7*7的第四级卷积增强子模块。

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