[实用新型]芯片测试吸盘

说明书

本实用新型公开了芯片测试吸盘，包括吸盘盒，顶部设有开口，一侧开设有出风口，所述出风口内固定连接有出风管，所述出风管内设有过滤组件；盒盖，铰接在吸盘盒顶部，底部设有和吸盘盒开口相匹配的密封圈，一侧开设有拉起盒盖的凹槽；吸盘本体，设置在吸盘盒内部，内部设置为空心状，顶部开设有若干个通孔，底部设有负压管，所述负压管设置为波纹状，且贯穿吸盘盒。本实用新型通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来，避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响，设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上，提高清灰效果，并且不会造成周围环境污染，设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及芯片测试吸盘。

背景技术

芯片在封装厂封装完成后，要进行成品的最终测试。目前，常用的测试方法是在自动测试设备上进行测试。在测试过程中，通常是通过转移装置自动获取送料机构上的芯片，然后再将芯片放至测试模块中进行测试。芯片在进行测试前需要通过吸盘将芯片吸附固定后再进行测试工作。

对芯片进行测试时，诸多的测试脚接触芯片的管脚，由于测试极为精细，所以测试精度受环境影响较大，芯片上不能有灰尘。

因此，发明芯片测试吸盘来解决上述问题很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供芯片测试吸盘，通过设置清灰组件可以将芯片上的灰尘清扫下来，避免测试过程中芯片上的灰尘对测试造成影响，设置过滤组件可以将清扫下来的灰尘进行吸出并过滤在过滤网上，提高清灰效果，并且不会造成周围环境污染，设置固定块和螺丝可以对过滤网进行定期拆卸清理，以解决技术中的上述不足之处。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：芯片测试吸盘，包括吸盘盒，顶部设有开口，一侧开设有出风口，所述出风口内固定连接有出风管，所述出风管内设有过滤组件；

盒盖，铰接在吸盘盒顶部，底部设有和吸盘盒开口相匹配的密封圈，一侧开设有拉起盒盖的凹槽；

吸盘本体，设置在吸盘盒内部，内部设置为空心状，顶部开设有若干个通孔，底部设有负压管，所述负压管设置为波纹状，且贯穿吸盘盒，所述负压管底部固定连接有连接管，所述连接管远离负压管一端连接有负压机；

清灰组件，位于吸盘盒内部，用于清洁芯片表面灰尘。

作为本实用新型的优选方案，所述过滤组件包括：

丝杆，位于吸盘盒内，且两端与吸盘盒转动连接；

限位杆，位于吸盘盒内且与丝杆对称分布，两端分别与吸盘盒固定连接；

清洁杆，一端螺纹套接在丝杆上，另一端滑动套接在限位杆上，底部设有毛刷；

电机，固定连接在吸盘盒一侧，且输出轴贯穿吸盘盒与丝杆固定连接。

作为本实用新型的优选方案，所述过滤组件包括：

风机，固定连接在出风管内，用于吸取清理下来的灰尘；

过滤网，设置在风机一侧，用于过滤灰尘；

四个固定块，环形分布在出风管内且与出风管固定连接，四个所述固定块上均设有螺丝，所述过滤网和四个固定块通过螺丝可拆卸连接。

作为本实用新型的优选方案，所述吸盘本体底部一端固定连接有电动推杆，另一端固定连接有伸缩杆，所述电动推杆和伸缩杆均与吸盘盒固定连接。

作为本实用新型的优选方案，所述吸盘盒一侧固定连接有把手，所述把手高度与盒盖厚度相匹配。

作为本实用新型的优选方案，所述吸盘盒顶部开设有卡槽，所述盒盖底部固定连接有卡扣，所述卡扣和卡槽卡接。