[实用新型]料盘传输装置及芯片测试分选机

说明书

本实用新型提供了一种料盘传输装置及芯片测试分选机，料盘传输装置包括机架、第一直线驱动机构、第一取料盘机构、第二直线驱动机构及第二取料盘机构，机架具有放置料盘的第一工位和第二工位，第一取料盘机构由第一直线驱动机构驱动在料盘传输方向上移动，第二取料盘机构由第二直线驱动机构驱动在料盘传输方向上移动，第一取料盘机构用于将料盘运输至第一工位，第二取料盘机构用于将第一工位处的料盘移动至第二工位。通过设置第一取料盘机构和第二取料盘机构，使两个装满芯片的料盘分别位于第一工位和第二工位上，从而可以设置更多的机械手和测试机构同时对第一工位和第二工位上的料盘上的芯片进行抓取测试，提高测试效率，提高产能。

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域，更具体地说，是涉及一种料盘传输装置及芯片测试分选机。

背景技术

为了保证芯片的出货良率，在芯片出货之前都会对芯片进行压力测试、电性测试等。目前芯片测试领域所用到的分选测试设备，需要使用料盘盛装芯片，然后通过机械手将料盘上的芯片抓取到测试座上进行测试。料盘采用料盘传输装置传输，料盘传输装置中的动力传输机构由于受到结构强度、制造成本和传输稳定性的影响，同一动力传输机构中的传动的长度不宜设置的过长，这就导致料盘传输装置上能够放置的料盘较少，对应设置的机械手和测试工位也较少，产能较低。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的在于提供一种料盘传输装置及芯片测试分选机，以解决现有技术中存在的动力传输机构中的传动长度不宜设置过长，导致料盘传输装置设置的料盘较少、产能较低的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：提供一种料盘传输装置，包括机架、第一直线驱动机构、第一取料盘机构、第二直线驱动机构及第二取料盘机构，所述机架具有用于放置料盘的第一工位和第二工位，所述第一工位和所述第二工位沿料盘传输方向依次设置，所述第一取料盘机构由所述第一直线驱动机构驱动在料盘传输方向上往复移动，所述第二取料盘机构由所述第二直线驱动机构驱动在料盘传输方向上往复移动，所述第一取料盘机构用于将料盘运输至所述第一工位，所述第二取料盘机构用于将所述第一工位处的料盘移动至第二工位。

可选地，所述第一直线驱动机构和所述第二直线驱动机构均包括能够输出旋转运动的第一旋转驱动件、由所述第一旋转驱动件驱动旋转的第一丝杆、以及螺纹连接于所述第一丝杆上的第一螺母座，所述第一直线驱动机构的所述第一螺母座与所述第一取料盘机构固定连接，所述第二直线驱动机构的所述第一螺母座与所述第二取料盘机构固定连接。

可选地，所述第一取料盘机构和所述第二取料盘机构均包括用于支撑料盘的支撑架、用于夹持料盘的夹爪结构，所述夹爪结构至少设置于所述支撑架的相对两侧。

可选地，所述料盘传输装置还包括料盘分层机构和料盘堆叠机构，所述料盘分层机构、所述第一工位、所述第二工位和所述料盘堆叠机构沿料盘传输方向依次设置，所述料盘分层机构用于将堆叠的多个料盘依次分离成单个的料盘，所述料盘堆叠机构用于将多个单独摆放的料盘堆叠设置。

本实用新型还提供一种芯片测试分选机，包括上述的料盘传输装置，还包括用于测试芯片的两个测试机构以及两个抓取机构，其中一个所述抓取机构用于将位于所述第一工位的料盘上的芯片抓取至其中一个所述测试机构，另一个所述抓取机构用于将位于所述第二工位的料盘上的芯片抓取至另一个所述测试机构。

可选地，所述料盘传输装置的传输方向为Y方向，两个所述测试机构沿Y方向依次排列，所述抓取机构包括用于取放芯片的抓取组件以及用于使所述抓取组件在X方向移动的X轴移动模组。

可选地，所述料盘传输装置的数量为两个，两个所述料盘传输装置分别设置于所述X轴移动模组的两端，其中一个所述料盘传输装置用于输送待检测的芯片，另一个所述料盘传输装置用于输送检测后的芯片；或者，所述料盘传输装置的数量为三个，其中一个所述料盘传输装置用于输送待检测的芯片，且设置于所述X轴移动模组的其中一端，另外两个所述料盘传输装置分别用于输送检测后的优等芯片和次优等芯片，且两个所述料盘传输装置设置于所述X轴移动模组的另外一端。