[实用新型]料盘传输装置及芯片测试分选机

权利要求书

1.一种料盘传输装置，其特征在于，包括机架、第一直线驱动机构、第一取料盘机构、第二直线驱动机构及第二取料盘机构，所述机架具有用于放置料盘的第一工位和第二工位，所述第一工位和所述第二工位沿料盘传输方向依次设置，所述第一取料盘机构由所述第一直线驱动机构驱动在料盘传输方向上往复移动，所述第二取料盘机构由所述第二直线驱动机构驱动在料盘传输方向上往复移动，所述第一取料盘机构用于将料盘运输至所述第一工位，所述第二取料盘机构用于将所述第一工位处的料盘移动至第二工位。

2.如权利要求1所述的料盘传输装置，其特征在于，所述第一直线驱动机构和所述第二直线驱动机构均包括能够输出旋转运动的第一旋转驱动件、由所述第一旋转驱动件驱动旋转的第一丝杆、以及螺纹连接于所述第一丝杆上的第一螺母座，所述第一直线驱动机构的所述第一螺母座与所述第一取料盘机构固定连接，所述第二直线驱动机构的所述第一螺母座与所述第二取料盘机构固定连接。

3.如权利要求1所述的料盘传输装置，其特征在于，所述第一取料盘机构和所述第二取料盘机构均包括用于支撑料盘的支撑架、用于夹持料盘的夹爪结构，所述夹爪结构至少设置于所述支撑架的相对两侧。

4.如权利要求1所述的料盘传输装置，其特征在于，所述料盘传输装置还包括料盘分层机构和料盘堆叠机构，所述料盘分层机构、所述第一工位、所述第二工位和所述料盘堆叠机构沿料盘传输方向依次设置，所述料盘分层机构用于将堆叠的多个料盘依次分离成单个的料盘，所述料盘堆叠机构用于将多个单独摆放的料盘堆叠设置。

5.芯片测试分选机，其特征在于，包括权利要求1-4任一项所述的料盘传输装置，还包括用于测试芯片的两个测试机构以及两个抓取机构，其中一个所述抓取机构用于将位于所述第一工位的料盘上的芯片抓取至其中一个所述测试机构，另一个所述抓取机构用于将位于所述第二工位的料盘上的芯片抓取至另一个所述测试机构。

6.如权利要求5所述的芯片测试分选机，其特征在于，所述料盘传输装置的传输方向为Y方向，两个所述测试机构沿Y方向依次排列，所述抓取机构包括用于取放芯片的抓取组件以及用于使所述抓取组件在X方向移动的X轴移动模组。

7.如权利要求6所述的芯片测试分选机，其特征在于，所述料盘传输装置的数量为两个，两个所述料盘传输装置分别设置于所述X轴移动模组的两端，其中一个所述料盘传输装置用于输送待检测的芯片，另一个所述料盘传输装置用于输送检测后的芯片；或者，所述料盘传输装置的数量为三个，其中一个所述料盘传输装置用于输送待检测的芯片，且设置于所述X轴移动模组的其中一端，另外两个所述料盘传输装置分别用于输送检测后的优等芯片和次优等芯片，且两个所述料盘传输装置设置于所述X轴移动模组的另外一端。

8.如权利要求5所述的芯片测试分选机，其特征在于，所述测试机构包括测试座组件以及下压组件，所述测试座组件用于容纳和测试芯片，所述下压组件用于将芯片压紧在所述测试座组件内，所述下压组件包括下压头、驱动所述下压头下压芯片的下压驱动件以及用于驱动所述下压头升降的升降驱动组件。

9.如权利要求8所述的芯片测试分选机，其特征在于，所述测试机构还包括升降架，所述下压驱动件固定于所述升降架上，所述升降驱动组件用于驱动所述升降架升降。

10.如权利要求9所述的芯片测试分选机，其特征在于：所述升降驱动组件包括同步带、第二旋转驱动件以及两个丝杆组件，所述丝杆组件包括第二丝杆以及螺纹连接于所述第二丝杆的第二螺母座，其中一个所述第二丝杆连接于所述第二旋转驱动件，且两个所述第二丝杆分别为所述同步带的主动轮和从动轮，两个所述第二螺母座分别连接于所述升降架的相对两侧。