[实用新型]一种芯片制造用高效多点测试探针装置有效
| 申请号: | 202222571565.8 | 申请日: | 2022-09-28 |
| 公开(公告)号: | CN218601415U | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
| 发明(设计)人: | 方经军 | 申请(专利权)人: | 苏州斯丹德电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/067;H01L21/66 |
| 代理公司: | 深圳市宾亚知识产权代理有限公司 44459 | 代理人: | 吴伟 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州市吴中*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 制造 高效 多点 测试 探针 装置 | ||
1.一种芯片制造用高效多点测试探针装置,其特征在于:包括底板(1)、竖向移动组件(2)、探测组件(3)和安装组件(4);
底板(1):上端四角设有安装孔;
竖向移动组件(2):设置在底板(1)的上侧;
安装组件(4):设置在底板(1)的上端;
探测组件(3):包含滑槽(31)、滑块(32)、探测仪(33)、连接杆(34)和数据线(37),所述滑槽(31)开设在竖向移动组件(2)中的滑板(21)下侧,所述滑槽(31)形状为横向,所述滑槽(31)的内部滑动连接有滑块(32),所述滑块(32)的下端固定连接在探测仪(33),所述探测仪(33)的左右两侧固定连接有多个数据线(37),所述数据线(37)的外周侧固定连接有连接杆(34),所述连接杆(34)的上端固定连接在滑块(32)的下端。
2.根据权利要求1所述的一种芯片制造用高效多点测试探针装置,其特征在于:所述探测组件(3)还包含塑性管(35)和探针(36),所述数据线(37)的侧端固定连接有塑性管(35),所述塑性管(35)的底端固定连接有探针(36)。
3.根据权利要求1所述的一种芯片制造用高效多点测试探针装置,其特征在于:所述竖向移动组件(2)包含滑板(21)、滑杆(22)和连接块(23),所述底板(1)的上端四角封闭固定连接有四个滑杆(22),所述滑杆(22)的外周侧滑动连接有滑板(21),所述滑板(21)的上端固定连接有连接块(23)。
4.根据权利要求3所述的一种芯片制造用高效多点测试探针装置,其特征在于:所述竖向移动组件(2)还包含侧板(25)、立杆(27)和转辊(28),所述底板(1)的后端中部固定连接有立杆(27),所述立杆(27)的上端左右两侧封闭固定连接有两个侧板(25),两个侧板(25)之间转动连接有转辊(28)。
5.根据权利要求4所述的一种芯片制造用高效多点测试探针装置,其特征在于:所述竖向移动组件(2)还包含缆线(24)和吊块(26),所述转辊(28)的中部连接有缆线(24),所述缆线(24)的一端固定连接有吊块(26),所述吊块(26)的另一端固定连接连接块(23)。
6.根据权利要求1所述的一种芯片制造用高效多点测试探针装置,其特征在于:所述安装组件(4)包含安装板(41)和安装槽(42),所述底板(1)的上端中部设有多个安装板(41),所述安装板(41)的上侧开设有安装槽(42)。
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