[实用新型]一种透明晶体自动测量装置有效

专利信息
申请号: 202221713186.1 申请日: 2022-07-05
公开(公告)号: CN217155305U 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 瞿龙;王昆 申请(专利权)人: 西安联正立测量设备有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;F16M11/04;F16M11/18;F16M11/20
代理公司: 西安利泽明知识产权代理有限公司 61222 代理人: 贾晓玲
地址: 710082 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 透明 晶体 自动 测量 装置
【说明书】:

本实用新型公开了一种透明晶体自动测量装置,包括平台,所述平台的顶部表面镶嵌设置有瓷片,所述瓷片与平台固定连接,所述平台为高精度花岗岩构件制成,所述平台的一端设置有固定板,所述固定板的顶部表面设置有凹槽,且凹槽的内部设置有第一电机,本实用新型涉及透明晶体测量技术领域。该透明晶体自动测量装置,通过PIC控制第一电机以及第二电机的使用,可以形成一个不断弯曲的运动轨迹,便于对材料进行全面测量,且通过激光测量头的向下照射测量,利用光谱共焦原理测量厚度,且槽洞的缝隙大小为10mm,从而让测量激光在网格内穿插反射,即可一次性测量透明物体双面的要素,防止人为翻面造成的人为误差即不确定性。

技术领域

本实用新型涉及透明晶体测量技术领域,具体为一种透明晶体自动测量装置。

背景技术

品质检测中很重要的一项是玻璃表面及内部缺陷的检测,检测项目包括缺陷在玻璃厚度方向的位置、尺寸、种类,自动检测设备根据这些检测出的缺陷特征来判断玻璃的品质优劣。

现有技术中,仍旧存在较多缺点,如重力机械检测:重力机械检测是人工抽检,会对产品有一定的损毁,被测件就无法使用,做不到实时检测,造成检测数据不对等,产品不良品增多。再如红外测距光源检测:红外本身误差在0.02mm以上,受产品本身反光影响,累计误差过大,造成测量不准确,无效数据过多。精密检测数据不具有参考性,粗糙检测价格没有优势,而且需要人为繁琐操作增加了误差积累。现有技术不能一次性测量透明物体双面的要素,不能防止因人为翻面而造成的人为误差即不确定性。

发明内容

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种透明晶体自动测量装置,解决了不能一次性测量透明物体双面的要素,防止因人为翻面而造成的人为误差即不确定性的问题。

为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种透明晶体自动测量装置,包括平台,所述平台的顶部表面镶嵌设置有瓷片,所述瓷片与平台固定连接,所述平台为高精度花岗岩构件制成,所述平台的一端设置有固定板,所述固定板的顶部表面设置有凹槽,且凹槽的内部设置有第一电机。

所述瓷片的表面设置有槽洞,所述槽洞的横截面形状为网格状,且槽洞的缝隙大小为10mm,所述瓷片的顶部设置有激光测量头,所述激光测量头的顶部设置有运动杆,所述运动杆与激光测量头固定连接,所述运动杆的顶端设置有移动杆,所述移动杆与运动杆固定连接。

优选的,所述第一电机的输出轴端部设置有螺纹杆,所述螺纹杆与第一电机的输出轴端部传动连接。

优选的,所述平台的顶部设置有圆杆,所述圆杆的横截面形状为L形,且圆杆的底端与平台活动连接,所述螺纹杆位于圆杆的底部。

优选的,所述圆杆的另一端底部设置有竖杆,所述螺纹杆贯穿竖杆且与竖杆螺纹连接。

优选的,所述圆杆的一端顶部设置有第二电机,所述平台远离固定板的一端正面设置有PIC。

优选的,所述第二电机的输出轴端部设置有旋转杆,所述旋转杆贯穿移动杆且与移动杆螺纹连接。

优选的,所述第一电机以及第二电机均与PIC相连接,所述瓷片设置为AAA级绝缘等高瓷片。

本实用新型提供了一种透明晶体自动测量装置。与现有技术相比具备以下有益效果:

1、该透明晶体自动测量装置,通过PIC控制第一电机以及第二电机的使用,可以形成一个不断弯曲的运动轨迹,便于对被测材料进行全面测量,且可以通过激光测量头的向下照射测量,加上利用光谱共焦原理、以及槽洞的缝隙大小为10mm等技术手段,让测量激光在网格内穿插反射,实现可一次性测量透明物体双面的要素,防止因人为翻面而造成的人为误差即不确定性。

2、该透明晶体自动测量装置,通过圆杆的底端位于凹槽的内部,且与螺纹杆螺纹连接,可以让圆杆沿着凹槽以及螺纹杆发生运动,提高了运动的平稳性。

附图说明

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