[实用新型]中子源反演测量验证工装、中子源反演测量验证装置及系统

权利要求书

1.一种中子源反演测量验证工装，其特征在于，包括：底架(100)、调整架和多个固定机构(200)，所述调整架连接于底架(100)和多个固定机构(200)之间，用于在外力作用下带动固定机构(200)相对底架(100)移动，以调整固定机构(200)的空间位置，所述固定机构(200)用于固定中子源和中子探测器。

2.根据权利要求1所述的中子源反演测量验证工装，其特征在于，所述调整架包括X轨组(300)和立架(400)，

所述X轨组(300)沿水平面X方向布置且滑设于底架(100)上，其可相对底架(100)沿水平面Y方向滑移，Y方向垂直于X方向；

所述立架(400)滑设于X轨组(300)上，其可相对X轨组(300)沿X方向滑移，

所述立架(400)上滑设有多个支撑板(4)，多个支撑板(4)沿Z方向间隔布置，支撑板(4)用于固定单个固定机构(200)，其可相对立架(400)沿Z方向滑移，Z方向分别与Y方向和X方向垂直。

3.根据权利要求2所述的中子源反演测量验证工装，其特征在于，所述X轨组(300)设有多组，每组X轨组(300)包括两根X轨(2)，多组X轨组(300)沿Y方向间隔布置，

所述立架(400)设有多个，多个立架(400)分布在多组X轨组(300)上。

4.根据权利要求2所述的中子源反演测量验证工装，其特征在于，所述立架(400)包括四根Z轨(3)和多个方型的辅助架(6)，辅助架(6)的四个角与四根Z轨(3)一一对应并与相应的Z轨(3)滑动连接，立架(400)上的多个辅助架(6)与多个支撑板(4)一一对应，支撑板(4)安装于相应的辅助架(6)上。

5.根据权利要求2-4任一项所述的中子源反演测量验证工装，其特征在于，所述固定机构(200)数量少于等于支撑板(4)数量。

6.根据权利要求1-4任一项所述的中子源反演测量验证工装，其特征在于，

所述固定机构(200)包括中子源座(8)和慢化体(7)，所述中子源座(8)和慢化体(7)均设于支撑板(4)上，慢化体(7)用于固定中子探测器，中子源座(8)设于慢化体(7)的一侧，用于固定中子源。

7.根据权利要求6所述的中子源反演测量验证工装，其特征在于，

所述慢化体(7)上开设有用于插入中子探测器的探测器孔(9)，所述中子源座(8)上开设有用于插入中子源的中子源接口。

8.一种中子源反演测量验证装置，其特征在于，包括中子源、电子探测器和如权利要求1-7任一项所述的中子源反演测量验证工装，所述中子源和中子探测器均设于所述中子源反演测量验证工装的固定机构(200)上。

9.根据权利要求8所述的中子源反演测量验证装置，其特征在于，所述中子源和中子探测器均设有多个，所述固定机构(200)相应设有多个，所述调整架能够独立调整每个固定机构(200)的空间位置。

10.一种中子源反演测量验证系统，其特征在于，包括信号采集处理单元和如权利要求8或9所述的中子源反演测量验证装置，所述信号采集处理单元与中子源反演测量验证装置的中子探测器电连接。