[实用新型]一种顶出机构及排晶机有效

专利信息
申请号: 202221492620.8 申请日: 2022-06-15
公开(公告)号: CN217588896U 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 邱国诚;周峻民;李浩然;林琪生 申请(专利权)人: 东莞市德镌精密设备有限公司
主分类号: H01L21/687 分类号: H01L21/687;H01L21/677
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 赵菲
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 机构 排晶机
【说明书】:

实用新型涉及半导体加工装置技术领域,具体公开了一种顶出机构,包括:座体;顶针,顶针可滑动地连接于座体上;顶力调节装置,顶力调节装置的第一端与顶针一端连接,以调节顶针的顶力大小;直线驱动装置,直线驱动装置固定安装于座体上,直线驱动装置与顶力调节装置的第二端驱动连接,以驱使顶力调节装置在座体上进行往复直线运动。通过顶力调节装置对顶针的顶力大小进行调节,从而使得顶针在进行顶晶操作时,既可以完成对基板装载面平面度更大的顶晶操作,又可以避免晶粒在顶出操作时产生顶翻、顶伤的状况,进而有利于提升顶晶加工效率和顶晶加工质量,以便于顶晶操作的快速、有效完成。

技术领域

本实用新型涉及半导体加工装置技术领域,尤其涉及一种顶出机构及排晶机。

背景技术

随着半导体技术的不断进步,半导体零件中圆晶晶粒的应用也日趋广泛。由于晶粒较为精细、尺寸也较小巧,那么在将胶带上的晶粒排到基板上时,通常都会使用到顶出机构。然而,现有的顶出机构对晶粒的顶出力度大小通常都是固定的、不可以调节的,那么其在顶出晶粒时,对基板装载面的平面度要求较高,且容易产生晶粒顶翻、顶伤等状况,从而不利于晶粒加工效率和加工质量的提升。

实用新型内容

针对现有技术的不足,本实用新型提供一种顶出机构,解决现有技术中顶出力度大小不可以调节的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供以下的技术方案:

一种顶出机构,包括:

座体;

顶针,所述顶针可滑动地连接于所述座体上;

顶力调节装置,所述顶力调节装置的第一端与所述顶针一端连接,以调节所述顶针的顶力大小;

直线驱动装置,所述直线驱动装置固定安装于所述座体上,所述直线驱动装置与所述顶力调节装置的第二端驱动连接,以驱使所述顶力调节装置在所述座体上进行往复直线运动。

可选的,所述顶力调节装置包括空气轴承,所述空气轴承的通气气压为0.005~0.1Mpa,以使所述顶针的顶力为0.02~1N。

可选的,所述直线驱动装置包括驱动件和滑动座,所述滑动座可滑动地连接于所述座体上,所述驱动件固定安装于所述座体上,且所述驱动件的活动端与所述滑动座固定连接,所述顶力调节装置的第二端固定连接于所述滑动座上。

可选的,所述直线驱动装置还包括导向件,所述导向件包括第一导轨和滑动连接于所述第一导轨上的第二导轨,所述第一导轨固定连接于所述座体上,所述第二导轨固定连接于所述滑动座上。

可选的,所述直线驱动装置还包括光栅尺,所述光栅尺固定连接于所述座体上,所述光栅尺上设有刻度尺,所述刻度尺滑动设置于所述光栅尺上,且所述刻度尺一端与所述滑动座固定连接。

可选的,该顶出机构还包括:

限位件,所述限位件固定连接于所述座体上,所述限位件上设有通孔;

所述顶针贯穿所述通孔,所述顶针上设有限位凸块,所述限位凸块的外径大于所述通孔的孔径,所述顶力调节装置的第一端固定连接于所述限位凸块上。

本实用新型还提供了一种排晶机,包括排晶机本体和上述的顶出机构,所述顶出机构固定连接于所述排晶机本体上。

与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:

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