[实用新型]一种刻蚀系统及太阳能电池片生产系统有效
申请号: | 202220827340.1 | 申请日: | 2022-04-02 |
公开(公告)号: | CN217788424U | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 周建科;时宝;盛健;陈刚 | 申请(专利权)人: | 天津爱旭太阳能科技有限公司;珠海富山爱旭太阳能科技有限公司;浙江爱旭太阳能科技有限公司;广东爱旭科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/66 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 王建宇 |
地址: | 300403 天津市北辰区天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 刻蚀 系统 太阳能电池 生产 | ||
1.一种刻蚀系统,用于磷扩散后的硅片,其特征在于,包括SE激光单元、第一检测单元、刻蚀单元、第二检测单元和控制模块;
所述SE激光单元用于对硅片进行激光重掺杂;
所述第一检测单元与SE激光单元连接,用于对SE激光单元激光重掺杂后的硅片进行称重;
所述刻蚀单元与第一检测单元连接,用于对第一检测单元称重后的硅片进行刻蚀;
所述第二检测单元与刻蚀单元连接,用于对刻蚀单元刻蚀后的硅片进行称重;
所述SE激光单元、第一检测单元、刻蚀单元和第二检测单元与控制模块电连接。
2.如权利要求1所述的刻蚀系统,其特征在于,第一检测单元设有第一称重设备,所述第一称重设备用于称量经所述SE激光单元激光重掺杂后的硅片的重量。
3.如权利要求2所述的刻蚀系统,其特征在于,所述第二检测单元设有第二称重设备,所述第二称重设备用于称量经所述刻蚀单元刻蚀后的硅片的重量。
4.如权利要求3所述的刻蚀系统,其特征在于,所述第一称重设备和第二称重设备为皮带秤。
5.如权利要求3所述的刻蚀系统,其特征在于,所述第一检测单元设有第一红外定位传感器,所述第一红外定位传感器用于定位所述硅片。
6.如权利要求3所述的刻蚀系统,其特征在于,所述第二检测单元设有第二红外定位传感器,所述第二红外定位传感器用于定位所述硅片。
7.如权利要求1所述的刻蚀系统,其特征在于,还包括第一回收单元和第二回收单元;
所述第一回收单元设于第一检测单元和刻蚀单元之间,用于对控制模块判断不合格的硅片进行回收;
所述第二回收单元与所述第二检测单元连接,用于对控制模块判断不合格的硅片进行回收;
所述第一回收单元和第二回收单元与所述控制模块电连接。
8.如权利要求7所述的刻蚀系统,其特征在于,所述第一回收单元和第二回收单元设有机械手。
9.如权利要求1所述的刻蚀系统,其特征在于,还包括设于第一检测单元之后的拍摄模块,所述拍摄模块用于对SE激光单元激光重掺杂后的硅片进行拍摄;所述拍摄模块与控制模块电连接。
10.一种太阳能电池片生产系统,其特征在于,包括如权利要求1-9中任一项所述的刻蚀系统。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的