[实用新型]一种GPP芯片电性测试装置

说明书

本实用新型公开了一种GPP芯片电性测试装置，包括盖板，所述盖板顶部上表面远离中心任意一侧设置有电机，所述电机驱动端固定连接有旋转杆，所述旋转杆中部位置贯穿固定连接有移动测试机构，所述移动测试机构包括主动轮，所述主动轮表面连接有连接带，所述连接带远离主动轮一端依次连接有四个从动轮，四个所述从动轮底部下表面中心位置固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆远离盖板一端转动连接有底座，所述底座中心固定连接有放置盘，所述放置盘中心位置固定连接有电极环。本实用新型通过设置了移动测试机构，此机构可以通过机械移动的方式来对GPP芯片进行电性测试，方便了测试人员对芯片的拿取，避免了芯片的损坏，提高了检测效率。

技术领域

本实用新型涉及GPP芯片电性测试技术领域，特别是涉及一种GPP芯片电性测试装置。

背景技术

Gpp是玻璃钝化类器件的统称，它泛指引入或包含有结质膜保护工艺手段的全部有源器件。

根据现有技术进行观察，GPP芯片在进行电性测试的时候大多都是将GPP芯片放入托盘中，随后通过托盘上的设备进行测试，但是在拿去或者放置的时候容易将GPP芯片损坏，损坏后的芯片就无法使用，如果是缓慢的小心地拿取就会导致检测效率降低。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的在于提供提高检测效率，保证芯片不会被损坏。

为实现上述目的,本实用新型提供了如下技术方案:

一种GPP芯片电性测试装置，包括盖板，所述盖板顶部上表面远离中心任意一侧设置有电机，所述电机驱动端固定连接有旋转杆，所述旋转杆中部位置贯穿固定连接有移动测试机构；

所述移动测试机构包括主动轮，所述主动轮表面连接有连接带，所述连接带远离主动轮一端依次连接有四个从动轮，四个所述从动轮底部下表面中心位置固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆远离盖板一端转动连接有底座，所述底座中心固定连接有放置盘，所述放置盘中心位置固定连接有电极环，所述电极环两侧对称位置均固定连接有接触点。

通过上述技术方案，将GPP芯片放入放置槽中，有盖板上的电机带动旋转杆进行转动，通过旋转杆带动主动轮进行转动，主动轮通过连接带带动从动轮进行转动，从动轮带动螺纹杆进行转动，螺纹杆带动盖板进行移动，从而使得GPP芯片与放置盘进行连接，随后在连接的过程中使得连接点与接触点进行连接完成测试，测试完毕后分开即可取出芯片再次放置新的芯片进行测试，电机上的有支架与底座是固定连接从而可以对电机起到支撑的作用。

本实用新型进一步设置为：所述盖板远离电机两端对称位置贯穿固定连接有连接头，两个所述连接头顶部固定连接有连接线。

通过上述技术方案， 连接线是为了连接测试设备而设置的。

本实用新型进一步设置为：四个所述螺纹杆靠近从动轮一端与盖板贯穿螺纹连接。

通过上述技术方案，螺纹杆转动时会带动盖板进行移动。

本实用新型进一步设置为：所述盖板靠近底座一侧侧壁中部位置固定连接有放置槽。

通过上述技术方案，放置槽是为了放置GPP芯片而设置的。

本实用新型进一步设置为：两个所述接触点远离盖板一侧与底座上表面固定连接。

通过上述技术方案，接触点可以连接头可以对通过电极环对GPP芯片进行电性测试。

本实用新型进一步设置为：所述连接带为橡胶皮带。

通过上述技术方案，橡胶皮带不导电，韧性高，使用寿命长。

本实用新型进一步设置为：两个所述接触点顶部与连接头底部贯穿滑动连接。

通过上述技术方案，接触点与连接头连接可以进行电性测试。