[实用新型]一种GPP芯片电性测试装置

权利要求书

1.一种GPP芯片电性测试装置，包括盖板（1），其特征在于：所述盖板（1）顶部上表面远离中心任意一侧设置有电机（2），所述电机（2）驱动端固定连接有旋转杆（14），所述旋转杆（14）中部位置贯穿固定连接有移动测试机构；

所述移动测试机构包括主动轮（3），所述主动轮（3）表面连接有连接带（4），所述连接带（4）远离主动轮（3）一端依次连接有四个从动轮（5），四个所述从动轮（5）底部下表面中心位置固定连接有螺纹杆（6），所述螺纹杆（6）远离盖板（1）一端转动连接有底座（7），所述底座（7）中心固定连接有放置盘（8），所述放置盘（8）中心位置固定连接有电极环（9），所述电极环（9）两侧对称位置均固定连接有接触点（10）。

2.根据权利要求1所述的一种GPP芯片电性测试装置，其特征在于：所述盖板（1）远离电机（2）两端对称位置贯穿固定连接有连接头（11），两个所述连接头（11）顶部固定连接有连接线（12）。

3.根据权利要求1所述的一种GPP芯片电性测试装置，其特征在于：四个所述螺纹杆（6）靠近从动轮（5）一端与盖板（1）贯穿螺纹连接。

4.根据权利要求1所述的一种GPP芯片电性测试装置，其特征在于：所述盖板（1）靠近底座（7）一侧侧壁中部位置固定连接有放置槽（13）。

5.根据权利要求1所述的一种GPP芯片电性测试装置，其特征在于：两个所述接触点（10）远离盖板（1）一侧与底座（7）上表面固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种GPP芯片电性测试装置，其特征在于：所述连接带（4）为橡胶皮带。

7.根据权利要求1所述的一种GPP芯片电性测试装置，其特征在于：两个所述接触点（10）顶部与连接头（11）底部贯穿滑动连接。

8.根据权利要求1所述的一种GPP芯片电性测试装置，其特征在于：所述旋转杆（14）为旋转伸缩杆。