[实用新型]X射线光谱仪及其屏蔽装置

说明书

本申请涉及一种X射线光谱仪及其屏蔽装置，包括底座及屏蔽罩，底座与屏蔽罩之间形成用于容纳样品的样品腔。所述屏蔽罩包括内盖、侧环及上盖，所述内盖位于所述侧环的上方，所述上盖罩在所述内盖及所述侧环之外，并且所述侧环与所述上盖夹紧所述内盖，所述内盖的底面为所述样品腔的所述凹凸面。本申请的X射线光谱仪及屏蔽装置，利用样品腔顶面的凹凸面可以吸收部分散射线，减少屏蔽装置造成的散射线对探测器的影响，可提高探测器的测试结果的准确度。

技术领域

本申请涉及一种X射线光谱仪及其屏蔽装置。

背景技术

X射线光谱仪的探测器是一种将光信号转换成电信号的探测设备，具有高灵敏度，高分辨率等特点。X射线光谱仪的样品腔通常由屏蔽结构围设成密闭腔，样品放置在样品腔内检测。X射线光谱仪工作时，使用原级X射线照射样品，激发样品内的不同元素产生相应的荧光，并由探测器接收这些荧光，进而计算样品的元素组成及相应含量。只是原级X射线照射样品时，产生的荧光，也是X射线，也会照射到样品周围的屏蔽结构而产生散射线。并且当样品为轻质样品或样品较薄时，原级X射线会透过样品，照射到样品周围的屏蔽结构，也会产生少量的散射线。这些散射线进入到探测器，会对探测器产生干扰，降低峰背比，影响计算结果的准确性。

因此，有必要对X射线光谱仪及其屏蔽结构进行改进。

实用新型内容

本申请提供一种X射线光谱仪及屏蔽装置。

具体地，本申请是通过如下技术方案实现的：一种屏蔽装置，适用于X射线光谱仪，包括底座及屏蔽罩，所述底座与所述屏蔽罩之间形成用于容纳样品的样品腔，所述样品腔内部的顶面为凹凸面。

依据本申请的一个实施方式，所述屏蔽罩包括内盖、侧环及上盖，所述内盖位于所述侧环的上方，所述上盖罩在所述内盖及所述侧环之外，并且所述侧环与所述上盖夹紧所述内盖，所述内盖的底面为所述样品腔的所述凹凸面。

依据本申请的一个实施方式，所述侧环及所述内盖均为铝材质或铝镀轻基质材料。

依据本申请的一个实施方式，所述底面设有若干向下凸伸的凸筋。

依据本申请的一个实施方式，所述凸筋为环形，若干所述凸筋的中心在所述内盖的中心线上。

依据本申请的一个实施方式，所述凸筋的宽度为0.5mm-1.5mm。

依据本申请的一个实施方式，所述凸筋的高度为2mm-4mm。

依据本申请的一个实施方式，相邻两所述凸筋的间距为1.5mm-2.5mm。

依据本申请的一个实施方式，屏蔽装置还包括薄膜、膜环及膜环座，所述膜环包括内环及外环，所述薄膜铺在所述内环的顶面上，所述外环套在所述内环的外侧并与所述内环共同夹持固定所述薄膜的边缘，所述膜环座设置在所述底座上并支撑所述膜环，所述样品放置在所述膜环之上。

依据本申请的一个实施方式，一种X射线光谱仪，包括X射线光管、探测器及前述屏蔽装置，所述X射线光管及所述探测器位于所述底座的底侧，所述底座设有通孔。

本申请的X射线光谱仪及屏蔽装置利用样品腔顶面的凹凸面可以吸收部分散射线，减少屏蔽装置造成的散射线对探测器的影响，提高探测器的准确度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

图1为根据本申请一个实施方式的X射线光谱仪的平面图。

图2与图1中X射线光谱仪的剖面图。

图3为图1中X射线光谱仪的立体分解图。

图4为X射线光谱仪的屏蔽装置的内盖的立体图。

图5为内盖屏蔽光线的原理示意图。