[实用新型]一种硅片检测装置及硅片分选设备

说明书

本实用新型提供了一种硅片检测装置及硅片分选设备，包括安装支架、第一厚度检测机构、第二厚度检测机构、第三厚度检测机构及第一距离调节机构，其中：安装支架上设有输送通道；第一厚度检测机构和第二厚度检测机构滑动连接在安装支架上并位于安装支架的第一侧，第三厚度检测部件连接在安装支架上并位于安装支架的第二侧；第一距离调节机构用于驱动第一厚度检测机构和第二厚度检测机构相互反向滑动；待检测硅片通过输送通道时，第一厚度检测机构和第二厚度检测机构分别检测待检测硅片的第一边侧部和第二边侧部的厚度，第三厚度检测机构检测待检测硅片的中间部的厚度。本实用新型能够满足不同尺寸的硅片的厚度检测需求。

技术领域

本实用新型涉及电池生产领域，具体地说是一种硅片检测装置及硅片分选设备。

背景技术

在电池组件的制作工艺中，硅片厚度检测是非常重要的一环，硅片厚度检测中，一般需要完成对硅片的两侧边缘部及中间部的厚度检测。传统的硅片检测设备一般仅能完成对特定尺寸的硅片的厚度检测，其通用性较低。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型第一方面提供了一种硅片检测装置，其具体技术方案如下：

一种硅片检测装置，包括安装支架、第一厚度检测机构、第二厚度检测机构、第三厚度检测机构及第一距离调节机构，其中：

安装支架上设有供硅片通过的输送通道；

第一厚度检测机构和第二厚度检测机构滑动连接在安装支架上并位于安装支架的第一侧，第三厚度检测机构连接在安装支架上并位于安装支架的与第一侧相对的第二侧；

第一距离调节机构用于驱动第一厚度检测机构和第二厚度检测机构相互反向滑动以调节第一厚度检测机构和第二厚度检测机构之间的距离；

待检测硅片通过输送通道时，第一厚度检测机构和第二厚度检测机构分别检测待检测硅片的第一边侧部和第二边侧部的厚度，第三厚度检测机构检测待检测硅片的中间部的厚度。

本实用新型提供的硅片检测装置，第一厚度检测机构和第二厚度检测机构之间的距离能够在第一距离调节机构的驱动下实现灵活调整，从而使得本实用新型能够满足不同尺寸的硅片的厚度检测需求。

在一些实施例中，第一距离调节机构包括电机、旋转杆、第一连杆及第二连杆，其中：电机设置在安装支架上；旋转杆固定连接在电机的驱动端上；第一连杆的第一端转动连接在旋转杆的第一端上，第一连杆的第二端转动连接在第一厚度检测机构上；第二连杆的第一端转动连接在旋转杆的第二端上，第二连杆的第二端转动连接在第二厚度检测机构上。

提供了一种结构简单的距离调节机构，其能够稳定地驱动第一厚度检测机构、第二厚度检测机构相互反向滑动。

在一些实施例中，第一厚度检测机构包括第一滑动连接板、第一激光器及第二激光器，其中：第一滑动连接板滑动连接在安装支架上，第一连杆的第二端转动连接在第一滑动连接板上，第一激光器和第二激光器设置在第一滑动连接板上并位于输送通道的上下两侧；第二厚度检测机构包括第二滑动连接板、第三激光器及第四激光器，其中：第二滑动连接板滑动连接在安装支架上，第二连杆的第二端转动连接在第二滑动连接板上，第三激光器和第四激光器设置在第二滑动连接板上并位于输送通道的上下两侧；第三厚度检测机构包括设置在安装支架上的第五激光器及第六激光器并位于输送通道的上下两侧；待检测硅片通过所述输送通道时，第一激光器和第二激光器同步扫描待检测硅片的第一边侧部的两个相对表面以实施对待检测硅片的第一边侧部的厚度检测，第三激光器和第四激光器同步扫描待检测硅片的第二边侧部的两个相对表面以实施对待检测硅片的第二边侧部的厚度检测，第五激光器和第六激光器同步扫描待检测硅片的中间部的两个相对表面以实施对待检测硅片的中间部的厚度检测。

将第一厚度检测机构、第二厚度检测机构及第三厚度检测机构设置成包括两个成对设置的激光器，通过两个激光器同步扫描硅片的两个边侧部及中间部的两个相对表面即能快速完成对硅片的两个边侧部、中间部的厚度检测。