[实用新型]一种芯片测试结构有效
| 申请号： | 202220041205.4 | 申请日： | 2022-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN217213020U | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 黄种庆 | 申请（专利权）人： | 黄种庆 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 朱斌兵 |
| 地址： | 马来西亚槟*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种芯片测试结构，其特征在于，包括：
芯片，所述芯片上至少包括一个导通端；
测试座主体；
至少一组测试片组件，所述测试片组件设置在测试座主体，所述测试片组件包括四个测试片，四个所述测试片上均具有针腿和针尖；
其中，四个所述测试片的针尖两两一组与芯片的导通端导通
或四个针尖分别与导通端相导通
或四个针尖合并导通后与导通端导通
或其中一个针尖与芯片的导通端导通，另三个针尖合并导通后与芯片的导通端导通。
2.如权利要求1所述的芯片测试结构，其特征在于：所述测试片的针尖通过探针与所述芯片的导通端相通。
3.如权利要求1所述的芯片测试结构，其特征在于：所述测试片组件的数量为四组，所述芯片上的导通端为四个。
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