[发明专利]芯片可测性设计测试方法、测试平台及其生成方法及装置

权利要求书

1.一种芯片可测性设计的测试方法，其特征在于，所述方法应用于测试平台，所述方法包括：

在测试用例的执行文件对应的前一测试向量片段完成被测芯片的测试后，停止芯片时钟，接收测试用例的执行文件对应的当前测试向量片段，所述当前测试向量片段由所述执行文件对应的第一测试向量及辅助信息拆分得到，或者由所述执行文件对应的第二测试向量的片段解析得到，所述第一测试向量是所述测试平台可识别的向量，所述第二测试向量是原始的测试向量，所述辅助信息包括控制所述测试平台对被测芯片进行测试的指导信息；

启动芯片时钟并基于所述当前测试向量片段测试所述被测芯片，包括：基于辅助信息，控制所述当前测试向量片段对应的激励信号输出到所述被测芯片的代码；获取所述被测芯片的代码输出的实际向量值；以及根据所述当前测试向量片段包括的预期向量值与所述实际向量值的比对结果确定所述当前测试向量片段对应的测试结果；

根据所述当前测试向量片段对应的测试结果与所述第一测试向量及辅助信息拆分得到的其他测试向量片段的测试结果，或与所述第二测试向量的其他片段解析得到的其他测试向量片段的测试结果，得到最终的测试结果，所述最终的测试结果通过用例执行日志展示；

其中所述当前测试向量片段的大小小于或等于所述测试平台的存储空间大小。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于辅助信息，控制所述当前测试向量片段对应的激励信号输出到所述被测芯片的代码，包括：

在所述辅助信息中的测试周期驱动参数指示的时间点，输出所述激励信号到所述被测芯片的代码的输入接口，所述被测芯片的代码的输出接口输出所述实际向量值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述当前测试向量片段包括的预期向量值与所述实际向量值的比对结果确定所述当前测试向量片段对应的测试结果，包括：

所述测试向量片段包括的预期向量值指示比对时，比对所述测试向量片段中预期向量值与所述测试周期比对参数指示的时间点处的芯片管脚输出的实际向量值是否匹配；

在比对结果是该时间点处的实际向量值和预期向量值不匹配时，记录错误信息，所述错误信息包括该时间点对应的测试周期、该时间点处的实际向量值和预期向量值；

根据所述错误信息确定所述当前测试向量片段对应的测试结果。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述测试平台适配于软件仿真平台和硬件仿真平台。

5.一种测试平台的生成方法，其特征在于，所述方法包括：

接收多个第二测试向量并分析得到每个第二测试向量对应的测试向量解析数据，所述第二测试向量是原始的测试向量；

分析所述测试向量解析数据，识别得到所述多个第二测试向量的公共信息，所述公共信息包括被测芯片的芯片管脚参数、时间参数、测试周期时间定义中的一种或多种；

根据所述公共信息以及拆分信息生成测试平台，所述拆分信息用于确定所述测试平台使用的存储空间大小，所述拆分信息指示的测试向量片段的长度小于或等于所述测试平台使用的存储空间大小，所述测试向量片段在所述测试平台对被测芯片进行测试时使用。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述拆分信息用于对所述测试平台可识别的向量进行拆分，所述方法还包括：

根据每个第二测试向量对应的测试向量解析数据生成第一测试向量，所述第一测试向量是所述测试平台可识别的向量；

根据所述拆分信息对所述第一测试向量及辅助信息进行拆分，得到多个测试向量片段，其中每个测试向量片段的大小小于或等于所述测试平台的存储空间大小，所述测试向量片段在所述测试平台对被测芯片进行测试时使用。