[发明专利]触屏轨迹确定方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202211644088.1 | 申请日: | 2022-12-20 |
公开(公告)号: | CN116185270A | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 骆荣狄;李波;姜鹏 | 申请(专利权)人: | 北京集创北方科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/04883 | 分类号: | G06F3/04883 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 100176 北京市经济技术开发区景园北街2*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轨迹 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
本公开涉及一种触屏轨迹确定方法、装置、电子设备和存储介质,在检测到用户触屏的情况下获取至少一个触屏位置序列,根据触屏位置序列中每两个连续的相关触屏位置,以及任意一个相关触屏位置以外的参考触屏位置确定相关触屏位置之间的插入位置。再根据触屏位置序列中包括的触屏位置,以及每两个连续的相关触屏位置之间的插入位置绘制对应的触屏轨迹。本公开通过设置参考触屏位置的方式准确的对采集的触屏位置序列进行插值,并基于插值结果绘制得到平滑的触屏轨迹,消除因采集帧率低导致的轨迹锯齿。
技术领域
本公开涉及计算机技术领域,尤其涉及一种触屏轨迹确定方法、装置、电子设备和存储介质。
背景技术
目前触屏轨迹检测广泛应用于人机交互领域,在屏幕采集用户触屏位置的帧率较低的情况下,根据采集的触屏位置绘制的触屏轨迹不够平滑,会出现锯齿等较差的轨迹效果。
发明内容
有鉴于此,本公开提出了一种触屏轨迹确定方法、装置、电子设备和存储介质,旨在通过插值法准确的绘制平滑的触屏轨迹。
根据本公开的第一方面,提供了一种触屏轨迹确定方法,所述方法包括:
响应于检测到用户触屏,获取至少一个触屏位置序列;
根据所述触屏位置序列中每两个连续的相关触屏位置,以及任意一个所述相关触屏位置以外的参考触屏位置确定所述相关触屏位置之间的插入位置;
根据所述触屏位置序列中包括的触屏位置,以及每两个连续的相关触屏位置之间的插入位置绘制对应的触屏轨迹。
在一种可能的实现方式中,所述根据所述触屏位置序列中每两个连续的相关触屏位置,以及任意一个所述相关触屏位置以外的参考触屏位置确定所述相关触屏位置之间的插入位置,包括:
获取所述触屏位置序列中两个连续触屏位置作为相关触屏位置,并确定所述相关触屏位置以外的任意一个触屏位置作为对应的参考触屏位置;
确定两个所述相关触屏位置的中点为中间触屏位置;
根据所述中间触屏位置、参考触屏位置和两个所述相关触屏位置确定第一候选位置和第二候选位置;
根据预设的筛选规则在所述第一候选位置和所述第二候选位置之中确定插入位置。
在一种可能的实现方式中,所述根据所述中间触屏位置、参考触屏位置和两个所述相关触屏位置确定第一候选位置和第二候选位置,包括:
根据所述中间触屏位置、参考触屏位置和两个所述相关触屏位置确定候选横坐标和候选纵坐标;
确定所述候选横坐标和所述中间触屏位置的纵坐标组成的位置为第一候选位置;
确定所述候选纵坐标和所述中间触屏位置的横坐标组成的位置为第二候选位置。
在一种可能的实现方式中,所述相关触屏位置包括按顺序获取的第一相关触屏位置和第二相关触屏位置;
所述根据所述中间触屏位置、参考触屏位置和两个所述相关触屏位置确定候选横坐标和候选纵坐标包括:
确定第一比值L1(xc)、第二比值L2(xc)、第三比值L3(xc),xc为所述中间触屏位置横坐标,x1为参考触屏位置横坐标,x2为第一相关触屏位置横坐标,x3为第二相关触屏位置横坐标;
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