[发明专利]触控位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种触控位置的确定方法，其特征在于，所述方法包括：

响应于检测到电容触摸屏被触控，确定所述电容触摸屏的电容阵列中每个电容当前的电容值；

根据所述电容阵列中每个电容当前的电容值，生成所述电容阵列对应的热力图；

确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置；

根据所述热力图与所述电容触摸屏间的映射关系、及所述第一位置，确定触控点在所述电容触摸屏中的第二位置。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电容阵列中每个电容当前的电容值，生成所述电容阵列对应的热力图，包括：

将每个所述电容当前的电容值进行归一化处理，以获取每个所述电容对应的目标归一化数值；

基于每个所述目标归一化数值，查询预设的热力值映射表，以获取每个所述电容对应的目标热力值，其中，所述热力值映射表中包含每个归一化数值与热力值之间的映射关系；

根据每个所述电容在所述热力图中对应的像素位置及每个所述电容对应的目标热力值，生成所述热力图。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置，包括：

确定所述第一位置对应的目标区域的质心所在的像素点为目标像素点；

根据所述热力图与所述电容触摸屏间的映射关系，确定所述目标像素点在所述电容触摸屏中对应的位置；

将所述目标像素点在所述电容触摸屏中对应的位置确定为所述第二位置。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置，包括：

将所述热力图输入目标识别模型中，以获取所述目标识别模型输出的所述热力图中包含的所述目标区域及所述目标区域在所述热力图中的所述第一位置。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：

获取样本训练数据集，其中，所述样本训练数据集中包括样本热力图，所述样本热力图中包含样本触控点对应的标注区域，及所述标注区域在所述样本热力图中的第三位置；

将所述样本热力图输入初始目标识别模型中，以获取所述样本热力图中包含的预测区域及所述预测区域在所述样本热力图中的第四位置；

根据所述第三位置与所述第四位置之间的差异，确定损失值；

根据所述损失值，对所述初始目标识别模型进行修正，以获取所述目标识别模型。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述样本热力图中包括以下至少一项：

一个或多个样本触控点；

不同接触面积对应的样本触控点；及

不同触摸压力值对应的样本触控点。

7.一种触控位置的确定装置，其特征在于，所述装置包括：

第一确定模块，用于，响应于检测到电容触摸屏被触控，确定所述电容触摸屏的电容阵列中每个电容当前的电容值；

生成模块，用于根据所述电容阵列中每个电容当前的电容值，生成所述电容阵列对应的热力图；

获取模块，用于确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置；

第二确定模块，用于根据所述热力图与所述电容触摸屏间的映射关系、及所述第一位置，确定触控点在所述电容触摸屏中的第二位置。

8.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如权利要求1-6中任一所述的触控位置的确定方法。

9.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1-6中任一所述的触控位置的确定方法。

10.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时，实现如权利要求1-6中任一项所述的触控位置的确定方法的步骤。