[发明专利]一种参考电压标定方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种参考电压标定方法、装置、设备及存储介质，涉及粒子计数器技术领域，该方法包括：利用与对目标粒径的粒子进行计数的计数单元对应的比较器，对当前采集到的实时脉冲电压和当前参考电压进行比较，并基于当前电压比较结果确定出当前计数结果；根据当前计数结果与实际粒子计数结果之间的计数误差程度，确定当前计数结果是否满足预设误差条件；如果是，则确定与预设误差条件对应的当前电压调整幅度，并基于当前电压调整幅度对当前参考电压进行相应的调整，基于调整后电压对比较器的参考电压进行标定，以得到比较器的标定后参考电压。可见，本申请通过在不同情况下对电压进行不同幅度的调整，进而更精确的标定比较器中参考电压。

技术领域

本发明涉及粒子计数器技术领域，特别涉及一种参考电压标定方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

光学粒子计数器的原理是利用光束照射到颗粒上获得粒子的散射光，即将粒子的粒径信息转换为散射光，通过收集散射光并将散射光转换为电压脉冲信号后，对由该粒子转换获取的电压脉冲信号幅值进行识别获取该粒子的粒径信息，这里通过电压脉冲信号幅值识别粒子粒径信息通常都是基于已经标定的标准参数，通过将粒子的电压脉冲信号幅值与标准参数进行比较并基于比较结果输出粒径信息，因此用于比较的标准参数的精确度对于准确识别粒子的粒径信息至关重要，现有技术通常在初始参考电压基础上采用等步长变化结合经验设置的方式标定。为了实现各粒径类别的准确计数，如何让对应粒径类别的参考电压更精确，是急需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种参考电压标定方法、装置、设备及存储介质，能够更加精准地标定比较器中用于识别预设粒子粒径类别的参考电压。其具体方案如下：

第一方面，本申请提供了一种参考电压标定方法，应用于粒子计数器，包括：

利用与对目标粒径的粒子进行计数的计数单元对应的比较器，对当前采集到的实时脉冲电压和当前参考电压进行比较，并通过所述计数单元基于当前电压比较结果确定出对所述目标粒径的粒子的当前计数结果；

根据当前计数结果与所述目标粒径的实际粒子计数结果之间的计数误差程度，确定当前计数结果是否满足预设误差条件；

如果是，则确定与所述预设误差条件对应的当前电压调整幅度，并基于所述当前电压调整幅度对当前参考电压进行相应的调整，以得到调整后电压；

基于所述调整后电压对所述比较器的参考电压进行标定，以得到所述比较器的标定后参考电压。

可选的，所述确定当前计数结果是否满足预设误差条件之前，还包括：

基于当前计数结果与所述实际粒子计数结果之间的大小关系以及所述计数误差程度与预设误差范围之间的关系，构建所述预设误差条件。

可选的，所述基于当前计数结果与所述实际粒子计数结果之间的大小关系以及所述计数误差程度与预设误差范围之间的关系，构建所述预设误差条件，包括：

分别构建第一预设误差条件和第二预设误差条件，以所述预设误差范围上限值为第一预设误差，所述预设误差范围下限值为第二预设误差；所述第一预设误差条件为当前计数结果大于所述实际粒子计数结果且所述计数误差程度超出第一预设误差，所述第二预设误差条件为当前计数结果小于所述实际粒子计数结果且所述计数误差程度超出第二预设误差。

可选的，所述根据当前计数结果与所述目标粒径的实际粒子计数结果之间的计数误差程度，确定当前计数结果是否满足预设误差条件，包括：

根据当前计数结果与所述目标粒径的实际粒子计数结果之间的计数误差程度，确定当前计数结果满足所述第一预设误差条件。

可选的，所述确定与所述预设误差条件对应的当前电压调整幅度，并基于所述当前电压调整幅度对当前参考电压进行相应的调整，以得到调整后电压，包括：