[发明专利]地图检测方法、装置、设备以及存储介质

权利要求书

1.一种地图检测方法，包括：

将点云地图中的点云数据分为多个体素，其中，一个体素中包括所述点云地图中的部分点云数据；

将所述体素中的点云数据按照面进行分组；

根据组中的点云数据，得到所述点云地图的厚度检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：

过滤单帧点云数据中的物体的点云数据，得到面特征的点云数据；

将多帧的所述面特征的点云数据进行坐标转换和拼接，得到面特征的点云地图。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，将多帧的所述面特征的点云数据进行坐标转换和拼接，得到面特征的点云地图，包括：

根据所述面特征的点云数据中的点在传感器坐标系下的坐标和传感器位姿数据，转换得到所述面特征的点云数据中的点在全局坐标系下的坐标和观测向量；

根据所述面特征的点云数据中的点在全局坐标系下的坐标，得到所述面特征的点云地图。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，将所述体素中的点云数据按照面进行分组，包括：

采用主成分分析法，得到所述体素中的点云数据的法向量；

根据所述体素中的点的观测向量以及所述体素中的点云数据的法向量，将所述体素中的点云数据分为至少一组。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，根据所述体素中的点的观测向量以及所述体素中的点云数据的法向量，将所述体素中的点云数据分为至少一组，包括：

计算所述体素中的点的观测向量与所述体素中的点云数据的法向量的内积；

将所述内积大于第一值的点划分到第一组，将所述内积小于第一值的点划分到第二组；其中，所述第一组和所述第二组分别代表不同的面。

6.根据权利要求4或5所述的方法，还包括：

采用主成分分析法，得到组中的点云数据的法向量；

根据所述组中的点云数据的法向量，得到所述组所属的面类别。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，根据所述组中的点云数据的法向量，得到所述组所属的面类别，包括：

根据所述组中的点云数据的法向量在x轴、y轴和z轴的坐标的最大值，确定所述组所属的面类别为x类面、y类面或z类面。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，根据组中的点云数据，得到所述点云地图的厚度检测结果，包括：

采用穿刺法计算所述组对应的点云厚度；

根据所述组对应的点云厚度和第一阈值，得到所述点云地图的厚度检测结果。

9.根据权利要求8所述的方法，所述穿刺法包括：

以所述组中的点云数据的法向量穿刺所述组中的一个参考点得到一条直线；

将与所述参考点的距离小于设定距离的多个点垂直投影到所述直线上；

将所述直线上在投影范围内的线段的宽度作为所述组对应的点云厚度。

10.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，根据组中的点云数据，得到所述点云地图的厚度检测结果，包括：

采用主成分分析法得到的所述组中的点云数据的特征值，计算所述组中的点云数据的厚度特性参数；

根据所述组中的点云数据的厚度特性参数和第二阈值，得到所述点云地图的厚度检测结果。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，采用主成分分析法得到的所述组中的点云数据的特征值，计算所述组中的点云数据的厚度特性参数，包括：

采用主成分分析法得到所述组中的点云数据的第一特征值、第二特征值和第三特征值；其中，所述第一特征值是所述组中的点云数据的最大特征值，所述第三特征值是所述组中的点云数据的最小特征值，所述第三特征值对应的特征向量是所述组中的点云数据的法向量；

利用所述第一特征值、所述第二特征值和所述第三特征值，计算所述组中的点云数据的厚度特性参数。