[发明专利]利用频率来测量物质场和引力场的方法及其在安防、探矿和火山地震预防中的应用在审

专利信息
申请号: 202211477566.4 申请日: 2022-11-23
公开(公告)号: CN115755207A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 周国平 申请(专利权)人: 周国平
主分类号: G01V7/00 分类号: G01V7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 411216 湖南省湘*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 利用 频率 测量 物质 引力场 方法 及其 探矿 火山地震 预防 中的 应用
【说明书】:

发明公开了一种利用频率来测量物质场和引力场的方法,没有排除电磁干扰所形成的频率为自然场场频,排除电磁干扰后的频率值为引力场场频,相同的高度和距离所形成的自然场场频/引力场场频就是等高场频和等距场频/引力场等高场频和引力场等距场频,场频不同形成场频差,自然场场频差相同的连线形成等效差场纹,相同的高度和距离所形成的场频差就是等高场频差和等距场频差;引力场场频差相同的连线形成引力场等强差场纹,相同的高度和距离所形成的引力场场频差就是引力场等高场频差和引力场等距场频差,利用这些场频和场纹中的一个或多个数据就能实现对物质场和引力场的测量。本发明还公开了该方法在安防、探矿和火山地震、地质预防中的应用。

技术领域

本发明涉及测量技术领域,具体为利用频率来测量物质场和引力场的方法及在安防、探矿和火山地震、地质预防中的应用。

背景技术

时间技术的发展,部分原子钟的不确定度小于10的负16次方,频谱仪更是能精密测量光的频率,在此基础上就有了物质场和引力场的测量基础。

发明内容

本发明的内容之一:提供一种利用频率来测量物质场和引力场的方法。

物质场是物质的外延属性,所述物质场包含电场、磁场、电磁场和引力场,物质场会影响到其周围物质的运动、能量的转换和转移,物质场可行测量方法就是频率,排除有形介质因素后,影响物质频率的外部因素有物质所接收的作用力、相对场速度、所处场场强、引力场能量态,所述有形介质是指除物质场以外的介质,如空气和水等,所述相对场速度是物质相对于所处场的速度,引力场能量态是表述引力场当前能量状态的量,而频率的收集可以通过频率仪来实现,所述频率仪包括原子钟、光钟、高频晶振等能产生频率的仪器或装置。

没有排除电磁干扰所形成的频率可以记录为自然场场频,所述电磁干扰包含电场、磁场和电磁场所形成的干扰,所述自然场场频是物质在自然界物质场所形成的频率,设定相同的高度和距离所形成的自然场场频就是等高场频和等距场频,自然场场频不同进而形成自然场场频差,自然场场频差相同的连线就能形成等效差场纹,相同的高度和距离所形成的场频差就是等高场频差和等距场频差;利用这些场频和场纹中的一个或多个数据就能实现对物质场的测量。

排除电磁干扰后的频率值可以记录为引力场场频,设定相同的高度和距离所形成的频率就是引力场等高场频和引力场等距场频,引力场场频不同进而形成引力场场频差,引力场场频差相同的连线就能形成引力场等强差场纹,相同的高度和距离所形成的引力场场频差就是引力场等高场频差和引力场等距场频差,利用这些场频和场纹中的一个或多个数据就能实现对引力场的测量。。

利用囚光室来获得频率,所述囚光室是囚困光或电磁波的空间或物质,波长相同的光或电磁波注入囚光室,光或电磁波在囚光室囚困一段时间后,其波长和频率会发生变化,这个变化后的频率就包含了物质场信息。

进一步的可以使用排除法达成更进一步的分析,如分别排除电场、磁场、电磁场三者种的一种或二种来测量自然场场频和场纹数据。

本发明的内容之二:利用频率来测量物质场和引力场的方法在安防上的应用,此方法是被动收集信息,无须向外界发出信号,所以具有自隐身性。

多个相同的频率仪组成频率仪阵列,当频率仪阵列所处引力场、电场、磁场、电磁场不发生变化时,频率仪阵列中各频率仪的频率是不变的,当一物体向频率仪阵列移动时,频率仪阵列中的各频率仪的频率先后降低,根据此频率变化次序就能判断物质接近的方位,根据频率降低时间就可以测量出物质的速度v=L/t,t为两个频率仪发生频率变化的时间差,L为两个频率仪之间的距离;排除电磁干扰后的频率降低值为,值越大,物质的质量越大,值越小,物质的质量越小。

本发明的内容之三:利用频率来测量物质场和引力场的方法在探矿上的应用。

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