[发明专利]一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法及装置

权利要求书

1.一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法，其特征在于，包括：

S1、调整第一相机、第二相机、屏幕、基础特征点与待测物体至测量位置；

S2、利用所述第一相机采集待测物体的相移图像得到第一相机的屏幕像素点；

S3、利用所述第二相机获取待测物体对应初始特征点的法向量；

S4、利用所述第一相机的屏幕像素点与待测物体对应初始特征点的法向量得到待测物体的测量特征点；

S5、利用所述待测物体的测量特征点得到待测物体的测量结果。

2.如权利要求1所述的一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法，其特征在于，所述调整第一相机、第二相机、屏幕、基础特征点与待测物体至测量位置包括：

调整所述第一相机与第二相机的间距均大于待测物体与第一相机、第二相机的距离的三分之一；

调整屏幕的倾斜角度至屏幕在待测物体中对应的虚像正对第一相机；

调整基础特征点至基础特征点在待测物体中对应的虚像正对第二相机。

3.如权利要求1所述的一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第一相机采集待测物体的相移图像得到第一相机的屏幕像素点包括：

利用所述第一相机采集屏幕中待测物体正弦条纹序列的相移图像；

利用所述待测物体正弦条纹序列的相移图像进行解相位处理得到第一相机像素点对应的第一相机的屏幕像素点。

4.如权利要求1所述的一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第二相机获取待测物体对应初始特征点的法向量包括：

利用所述第二相机基于基础特征点得到第一光线；

利用所述第一光线根据待测物体得到待测物体辅助测量点；

利用所述待测物体辅助测量点得到待测物体辅助测量点法向量；

利用所述待测物体辅助测量点法向量作为待测物体对应初始特征点的法向量。

5.如权利要求1所述的一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第一相机的屏幕像素点与待测物体对应初始特征点的法向量得到待测物体的测量特征点包括：

利用所述第一相机的屏幕像素点与待测物体辅助测量点的连线作为第一相机反射光线；

利用第一相机像素点与待测物体辅助测量点的连线作为第一相机入射光线；

利用所述第一相机入射光线与第一相机反射光线得到第一相机初始特征点法向量；

利用所述第一相机初始特征点法向量得到待测物体的测量特征点。

6.如权利要求5所述的一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第一相机初始特征点法向量得到待测物体的测量特征点包括：

利用第二相机基于基础特征点得到第二相机像素点；

利用所述第二相机像素点与待测物体辅助测量点的连线作为第二相机入射光线；

利用所述待测物体辅助测量点与基础特征点的连线作为第二相机反射光线；

利用所述第二相机入射光线与第二相机反射光线得到第二相机初始特征点法向量；

利用所述第一相机初始特征点法向量与第二相机初始特征点法向量得到待测物体的测量特征点。

7.如权利要求6所述的一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法，其特征在于，利用所述第一相机初始特征点法向量与第二相机初始特征点法向量得到待测物体的测量特征点包括：

判断所述第一相机初始特征点法向量与第二相机初始特征点法向量是否相同，若是，则利用所述第一相机初始特征点法向量与第二相机初始特征点法向量对应的待测物体辅助测量点作为待测物体的测量特征点，否则，放弃处理。