[发明专利]一种视频解码芯片SLT方法及测试装置在审

专利信息
申请号: 202211391702.8 申请日: 2022-11-08
公开(公告)号: CN115672792A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 丁锐;曾亚森;虞尚智;周奇;杨立宏;郑木彬 申请(专利权)人: 中山火炬职业技术学院;珠海海奇半导体有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/36;B07C5/02
代理公司: 中山市捷凯专利商标代理事务所(特殊普通合伙) 44327 代理人: 石仁
地址: 528400 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 视频 解码 芯片 slt 方法 测试 装置
【说明书】:

本申请涉及一种视频解码芯片SLT方法及测试装置,包括如下步骤:桌面测试机初始化;桌面测试机从托盘上自动吸取芯片后放到测试座中;核心测试板通电;进行开短路测试并比对结果;进行模拟IP测试并比对结果;进行系统应用测试并比对结果;测试架完成测试,给测试机发送测试信号;桌面测试机根据信号将芯片进行分类,所述测试装置包括桌面型测试机和核心测试板,所述桌面型测试机用于取放以及分选芯片,所述桌面型测试机用于控制所述核心测试板的电源以及获取核心测试板的反馈结果,该方法降低了芯片板级测试难度,缩短了测试时间,且通过采用机器进行数据比对,能够及时发现人眼无法判别的瑕疵,减低成本的同时能够较好的扩充产能。

【技术领域】

本申请涉及半导体芯片测试技术领域,尤其涉及一种视频解码芯片SLT方法及测试装置。

【背景技术】

现有的视频解码芯片SLT测试采用人工判断视频接口输出图像质量是否符合测试要求,人眼判断屏幕输出是否合格后,再把芯片从测试架中取出根据结果好坏放回测试架中,该方式存在人眼容易忽略一些细小的瑕疵、测试产能扩充难以及单颗芯片测试成本高的问题,再参照中国发明公开专利CN114461469A公布的一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法,该发明将图形芯片的通断性测试和板级功能测试融合在一起,能够更加全面地完成图形芯片的测试,然而该发明方法只适用于图形芯片的静态图片输出的数据匹配,对于视频解码芯片,视频数据流内容多且为动态数据,较难进行数据匹配,从而没办法适用到视频解码芯片的测试中。

【发明内容】

为了能够较好的测试视频解码芯片,高效自动地完成通断性测试、IP测试和芯片筛选,且方便于芯片产能扩充,减少成本的投入,本申请提出了如下方案:

一种视频解码芯片SLT方法,包括如下步骤:

桌面测试机初始化;

桌面测试机从托盘上自动吸取芯片后放到测试座中;

核心测试板通电;

进行开短路测试并比对结果;

进行模拟IP测试并比对结果;

进行系统应用测试并比对结果;

测试架完成测试,给测试机发送测试信号;

桌面测试机根据信号将芯片进行分类。

如上所述的一种视频解码芯片SLT方法,在进行开短路测试并比对结果的步骤中,所述开短路测试包括如下步骤:

判断IO口数量是否为偶数个,若是,则在核心测试板上将通用IO口分为数量相等的两组第一组和第二组,将第一组和第二组的通用IO口在核心测试板上一一相连;

第一阶段控制第一组通用IO口分别输出高电平和低电平,从第二组通用IO口读回来进行判定。

控制第一组通用IO口输出高电平,再从第二组的通用IO口读回来第一组的输出,判断是否都为高电平,如全部为高电平进行下一步,否则判定为坏片;

控制第一组通用IO口输出低电平,再从第二组的通用IO口读回来第一组的输出,判断是否都为低电平,如全部为低电平进行下一步,否则判定为坏片;

第二阶段控制第二组通用IO口分别输出高电平和低电平,从第一组通用IO口读回来进行判定。

控制第二组通用IO口输出高电平,再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出,判断是否都为高电平,如全部为高电平进行下一步,否则判定为坏片;

控制第二组通用IO口输出低电平,再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出,判断是否都为低电平,如全部为低电平进行下一步,否则判定为坏片;

完成开短路测试,进入下一功能测试。

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