[发明专利]一种视频解码芯片SLT方法及测试装置

权利要求书

1.一种视频解码芯片SLT方法，其特征在于，包括如下步骤：

桌面测试机初始化；

桌面测试机从托盘上自动吸取芯片后放到测试座中；

核心测试板通电；

进行开短路测试并比对结果；

进行模拟IP测试并比对结果；

进行系统应用测试并比对结果；

测试架完成测试，给测试机发送测试信号；

桌面测试机根据信号将芯片进行分类。

2.根据权利要求1所述的一种视频解码芯片SLT方法，其特征在于，在进行开短路测试并比对结果的步骤中，所述开短路测试包括如下步骤：

判断IO口数量是否为偶数个，若是，则在核心测试板上将通用IO口分为数量相等的两组第一组和第二组，将第一组和第二组的通用IO口在核心测试板上一一相连；

第一阶段控制第一组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第二组通用IO口读回来进行判定。

控制第一组通用IO口输出高电平，再从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；

控制第一组通用IO口输出低电平，再从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；

第二阶段控制第二组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第一组通用IO口读回来进行判定。

控制第二组通用IO口输出高电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；

控制第二组通用IO口输出低电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；

完成开短路测试，进入下一功能测试。

3.根据权利要求2所述的一种视频解码芯片SLT方法，其特征在于，若IO口数量为奇数个，则在核心测试板上将通用IO口分为数量相等的两组第一组和第二组之后，将第一组和第二组的通用IO口在核心测试板上一一相连，剩余的一个独立IO口执行如下步骤：

剩下的一个独立IO口输出接到一个锁存器芯片的输入，第一组的任意一个IO接到锁存器芯片的输出控制OE端，锁存器芯片的锁存使能端LE直接接到电源上，使得锁存使能一直有效。锁存器输出控制OE端为1时，锁存器输出高阻态，不驱动总线。锁存器输出控制OE端为0时，锁存器输出锁存后的数据。

第一阶段控制第一组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第二组通用IO口读回来进行判定。独立IO口输出高电平给锁存器锁存后再切换为输入把锁存器输出读回来进行判定。具体步骤如下：

控制第一组通用IO口输出高电平，锁存器输出控制OE端为1，锁存器输出高阻态；控制独立IO输出高电平，同时从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；

控制第一组通用IO口输出低电平，锁存器输出控制OE端为0，锁存器输出锁存的独立IO状态，接下来控制独立IO切换为输入，判断锁存器输出的独立IO状态是否为高电平，如是则继续，否则判定为坏片；从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；

控制独立IO输出低电平，控制第一组通用IO口输出低电平，锁存器输出控制OE端为0，锁存器输出锁存的独立IO状态，接下来控制独立IO切换为输入，判断是否为低电平，如是则进入下一步，否则判定为坏片；

第二阶段控制第二组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第一组通用IO口读回来进行判定。

控制第二组通用IO口输出高电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；

控制第二组通用IO口输出低电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；

完成开短路测试，进入下一功能测试。