[发明专利]对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质

说明书

本申请涉及一种对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质。方法包括：根据多个显示面板的图像信息获取对位偏差，所述显示面板由基板与薄膜压合形成，所述对位偏差为所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏差；根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值；根据所述对位补偿值控制压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。本申请的方法能够自动的识别当前对位工艺的对位偏差，并自动的对待压合的薄膜进行校正，提高了薄膜与基板压合时的对位精度。

技术领域

本申请涉及光学产品加工技术领域，特别是涉及一种对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质。

背景技术

随着显示技术的发展，人们对于显示面板的性能的要求越来越高，而为了提高显示面板的性能，需要提高显示面板的制作工艺的精度，而在显示面板的制作组装过程中，其中一个重要的步骤是将具有芯片的薄膜(ChiponFilm，COF)压合在基板上的布线区域。然而，在将薄膜压合在基板上的布线区域时，薄膜和基板之间通常会存在偏移，从而可能会导致薄膜与基板的布线区域的导通状况不良，从而影响显示面板的性能。因此，如何提高薄膜与基板压合时的对位精度，是目前需要解决的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高薄膜与基板的对位精度的对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质。

一种对位方法，所述方法包括：根据多个显示面板的图像信息获取对位偏差，所述显示面板由基板与薄膜压合形成，所述对位偏差为所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏差；根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值；根据所述对位补偿值控制压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：更新所述对位补偿值，并根据更新后的对位补偿值控制压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。

在其中一个实施例中，所述更新所述对位补偿值，包括：当所述对位补偿值大于预设阈值时，根据上一所述对位补偿值对当前待压合的预校正薄膜进行校正、再与预校正基板进行压合处理，直到压合处理后的预校正显示面板的对位偏差小于或等于预设阈值，所述对位偏差小于或等于预设阈值对应的对位补偿值为更新后的对位补偿值；其中，当前的所述预校正显示面板的对位偏差和所述预设校准权重用于获取下一待压合的预校正薄膜的对位补偿值。

在其中一个实施例中，所述根据多个显示面板的图像信息获取对位偏差，包括：根据多个显示面板的图像信息，确定各所述显示面板中所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏移量；根据各所述坐标偏移量的分布状态确定所述对位偏差。

在其中一个实施例中，所述坐标偏移量包括：同一显示面板中所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的偏移量的绝对值和偏移方向。

在其中一个实施例中，所述对位偏差包括X轴偏差、Y轴偏差和角度偏差，所述根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值前，所述方法还包括：将所述X轴偏差、所述Y轴偏差、所述角度偏差分别与对应的X轴预设阈值、Y轴预设阈值、角度预设阈值进行比较；在任一比较结果不符合预设条件的情况下，执行所述根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值的步骤。

一种对位系统，所述设备包括：

压合装置，用于将薄膜与基板压合；

拍摄装置，用于获取多个显示面板的图像信息，所述显示面板由基板与薄膜压合形成；

光学检测装置，与所述拍摄装置连接，用于根据多个显示面板的图像信息，确定所述显示面板的对位偏差，所述对位偏差为所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏差；

处理器，分别与所述光学检测装置、所述压合装置连接，用于根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值；根据所述对位补偿值控制所述压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。在其中一个实施例中，