[发明专利]对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 202211345593.6 申请日: 2022-10-31
公开(公告)号: CN115631110A 公开(公告)日: 2023-01-20
发明(设计)人: 杨智超;倪厚名;郑红;彭兆基 申请(专利权)人: 广州国显科技有限公司;昆山国显光电有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/70
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 李月
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 对位 方法 系统 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种对位方法,其特征在于,所述方法包括:

根据多个显示面板的图像信息获取对位偏差,所述显示面板由基板与薄膜压合形成,所述对位偏差为所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏差;

根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值;

根据所述对位补偿值控制压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

更新所述对位补偿值,并根据更新后的对位补偿值控制压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述更新所述对位补偿值,包括:

当所述对位补偿值大于预设阈值时,根据上一所述对位补偿值对当前待压合的预校正薄膜进行校正、再与预校正基板进行压合处理,直到压合处理后的预校正显示面板的对位偏差小于或等于预设阈值,所述对位偏差小于或等于预设阈值对应的对位补偿值为更新后的对位补偿值;

其中,当前的所述预校正显示面板的对位偏差和所述预设校准权重用于获取下一待压合的预校正薄膜的对位补偿值。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据多个显示面板的图像信息获取对位偏差,包括:

根据多个显示面板的图像信息,确定各所述显示面板中所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏移量;

根据各所述坐标偏移量的分布状态确定所述对位偏差。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述坐标偏移量包括:同一显示面板中所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的偏移量的绝对值和偏移方向。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对位偏差包括X轴偏差、Y轴偏差和角度偏差,所述根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值前,所述方法还包括:

将所述X轴偏差、所述Y轴偏差、所述角度偏差分别与对应的X轴预设阈值、Y轴预设阈值、角度预设阈值进行比较;

在任一比较结果不符合预设条件的情况下,执行所述根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值的步骤。

7.一种对位系统,其特征在于,所述对位系统包括:

压合装置,用于将薄膜与基板压合;

拍摄装置,用于获取多个显示面板的图像信息,所述显示面板由基板与薄膜压合形成;

光学检测装置,与所述拍摄装置连接,用于根据多个显示面板的图像信息,确定所述显示面板的对位偏差,所述对位偏差为所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏差;

处理器,分别与所述光学检测装置、所述压合装置连接,用于根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值;根据所述对位补偿值控制所述压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。

8.一种对位装置,其特征在于,所述装置包括:

偏差获取模块,用于根据多个显示面板的图像信息获取对位偏差,所述显示面板由基板与薄膜压合形成,所述对位偏差为所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏差;

补偿确定模块,用于根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值;

校正模块,用于根据所述对位补偿值控制压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正。

9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的对位方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的对位方法的步骤。

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