[发明专利]一种具有三维空间检测功能的液晶面板光学检测系统在审
申请号: | 202211319652.2 | 申请日: | 2022-10-26 |
公开(公告)号: | CN115586188A | 公开(公告)日: | 2023-01-10 |
发明(设计)人: | 冯波;温尊平;黄敏光 | 申请(专利权)人: | 深圳市英赛测试技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N21/01;G01B11/02;G01B11/00 |
代理公司: | 深圳众邦专利代理有限公司 44545 | 代理人: | 王红 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区大浪街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 三维空间 检测 功能 液晶面板 光学 系统 | ||
本发明提供一种具有三维空间检测功能的液晶面板光学检测系统,涉及液晶面板检测领域。该具有三维空间检测功能的液晶面板光学检测系统,包括上料单元、三维空间检测单元和光学检测单元,所述三维空间检测单元用作对上料单元输送的液晶面板进行三维空间的位置检测,所述光学检测单元根据三维空间检测单元检测到的位置信息进行相应的自身调整,以适应不同种类液晶面板的光学检测需求。通过建立空间直角坐标系,即可在第三直线电机实现相机的横向移动、第一电动伸缩杆实现相机的上下移动、第二电动伸缩杆实现相机的纵向移动、舵机实现相机视角偏转的条件下,适应曲面屏等异形屏的形状,从而使得本系统适用性更加宽广。
技术领域
本发明涉及液晶面板检测技术领域,具体为一种具有三维空间检测功能的液晶面板光学检测系统。
背景技术
液晶面板光学检测系统,是液晶面板产业生产中对液晶面板进行光学检测中必不可少的重要设备,现有的液晶面板光学检测系统,为了适应不同类的液晶面板,尤其是曲面屏等异形屏,相机物距的及时、精准调整是必不可少的能力之一,而物距的调整又与液晶面板检测时的三维空间位置信息息息相关,为此,本申请提出了一种具有三维空间检测功能的液晶面板光学检测系统,以为相机物距的调整提供基础条件,适应不同类的液晶面板。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供了一种具有三维空间检测功能的液晶面板光学检测系统,解决了现有液晶面板光学检测系统中,相机物距调整不便,进而不便适用不同类液晶面板的问题。
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种具有三维空间检测功能的液晶面板光学检测系统,包括上料单元、三维空间检测单元和光学检测单元,所述三维空间检测单元和光学检测单元均安装在上料单元的内部,所述三维空间检测单元用作对上料单元输送的液晶面板进行三维空间的位置检测,所述光学检测单元根据三维空间检测单元检测到的位置信息进行相应的自身调整,以适应不同种类液晶面板的光学检测需求;
所述上料单元包括机柜,所述机柜的上方设置有检测工作仓,所述三维空间检测单元设置在该检测工作仓内,所述三维空间检测单元包括第一直线电机、L形直角杆架、第二直线电机和一字形杆架,所述第一直线电机垂直于该检测工作仓内的底部平面并安装在其一侧仓壁的中部,所述L形直角杆架安装在第一直线电机的动子端外部,所述L形直角杆架的内侧两面分别均匀安装有多个一号激光测距器,各一号激光测距器发出的激光束处于同一平面内,且该平面与该检测工作仓内的底部平面平行,所述第二直线电机平行于该检测工作仓内的底部平面并安装在其另一侧仓壁的下方,所述一字形杆架安装在第二直线电机的动子端外部,所述一字形杆架的底侧面均匀安装有多个二号激光测距器,各二号激光测距器发出的激光束均垂直于该检测工作仓内的底部平面。
优选的,所述机柜的一侧设置有延伸平台,所述机柜与延伸平台组合体的顶部一侧开设有滑槽,滑槽的内部滑动连接有滑块,所述滑块的一侧两边均安装有支撑杆。
优选的,滑槽的内部转动连接有螺杆,所述螺杆的外部螺纹连接在滑块的内部,所述螺杆的外部一端贯穿机柜并固定连接有伺服电机,所述伺服电机安装在机柜的侧面。
优选的,所述光学检测单元包括第三直线电机,所述第三直线电机安装在该检测工作仓内的顶端内壁处,所述第三直线电机的动子端外部安装有第一电动伸缩杆且所述第一电动伸缩杆的伸缩方向垂直于该检测工作仓内的底部平面,所述第一电动伸缩杆的伸缩端安装有第二电动伸缩杆且所述第二电动伸缩杆的伸缩方向平行于该检测工作仓内的底部平面,所述第二电动伸缩杆的伸缩端安装有连接座,所述连接座的底部安装有舵机且所述舵机的驱动端旋转平面垂直于该检测工作仓内的底部平面,所述舵机的驱动端安装有相机。
优选的,所述相机为面阵扫描CCD相机。
优选的,所述光学检测单元还包括背光照明灯,所述背光照明灯安装在该检测工作仓内的底部平面中间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市英赛测试技术有限公司,未经深圳市英赛测试技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211319652.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种镁锂合金及部件
- 下一篇:一种二胺、液晶取向剂及其制备方法和应用