[发明专利]测试设备、测试系统及方法

权利要求书

1.一种测试设备，其特征在于，包括：

功率电阻，所述功率电阻与待测试的目标控制器中驱动芯片相连；

接口组件，所述接口组件输出模拟信号和/或数字信号至目标控制器，其中，所述接口组件与所述目标控制器相连；

第一开关和控制单元，其中，所述控制单元分别与所述功率电阻、接口组件和所述第一开关相连，基于所述第一开关的预设开启状态控制所述接口组件输出模拟信号和/或数字信号至所述目标控制器，并根据所述驱动芯片对应端口的电压值判断所述目标控制器的功能测试合格或不合格。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述接口组件包括一个或多个模拟信号输出接口，和/或，一个或多个数字信号输出接口。

3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

通信组件，所述通信组件与所述目标控制器通信，将所述目标控制器采集的所述驱动芯片对应端口的电压值发送给所述控制单元。

4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述通信组件包括CAN模块和/或LIN通信模块。

5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

供电电源；

第二开关，所述二开关与所述供电电源和所述功率电阻、接口组件、所述控制单元和所述目标控制器相连，其中，所述第二开关具有预设开启状态和预设关闭状态。

6.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

显示器，所述显示器与所述控制单元相连，显示所述驱动芯片对应端口的电压值。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的测试设备，其特征在于，所述控制单元为MCU。

8.根据权利要求1-6任意一项所述的测试设备，其特征在于，所述驱动芯片包括低边驱动芯片、高边驱动芯片和半桥驱动芯片。

9.一种测试系统，其特征在于，包括：

目标控制器，其中，所述目标控制器包括驱动芯片；

如权利要求1-8任意一项所述的测试设备，所述测试设备与所述目标控制器相连，对所述目标控制器进行测试，并根据目标控制器测试时所述驱动芯片对应端口的电压值判断所述目标控制器的功能测试合格或不合格。

10.一种测试方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求1-8任意一项所述的测试设备，其中，所述方法包括以下步骤：

识别第一开关是否处于预设开启状态；

若识别到所述第一开关处于所述预设开启状态，则控制所述接口组件输出模拟信号和/或数字信号至所述目标控制器，其中，所述目标控制器根据所述模拟信号和/或所述数字信号控制驱动芯片工作；

获取所述目标控制器采集的驱动芯片对应端口的电压值，根据所述驱动芯片对应端口的电压值判断所述目标控制器的功能测试合格或不合格。