[发明专利]一种失效分析标准流程调整方法及系统

说明书

本发明涉及一种失效分析标准流程调整方法及系统，属于失效分析技术领域，解决了现有失效分析标准流程无法动态调整和生成问题。包括基于历史维修记录获取故障点的良率，通过聚类分析故障点的良率，得到故障点中的正常点，统计正常点的故障发生概率；基于失效分析知识图谱，将正常点的故障发生概率作为相应检测步骤实体的故障发生概率；根据检测步骤实体及实体间的关系，获取各检测流程下具有顺序的检测步骤，作为初始步骤集合；根据检测步骤实体的故障发生概率，对初始步骤集合中的检测步骤顺序进行调整，根据调整后的初始步骤集合，得到各检测流程下调整后的失效分析检测流程。实现了失效分析标准流程的动态调整。

技术领域

本发明涉及失效分析技术领域，尤其涉及一种失效分析标准流程调整方法及系统。

背景技术

失效分析一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。失效分析在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。随着设备量大，工业失效分析数据的存储量将呈指数级增长。

现有技术中，针对不良组件，根据人工诊断可以得到故障现象，然后基于工程师的经验，通过故障现象确定失效分析流程，对不良组件一步一步检测，得到最终的故障点。

现有失效分析流程不统一，检测步骤和检测顺序与工程师的行业知识和经验有关，分析效率低。

发明内容

鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种失效分析标准流程调整方法及系统，用以解决现有失效分析标准流程无法动态调整和生成的问题。

一方面，本发明实施例提供了一种失效分析标准流程调整方法，包括如下步骤：

基于历史维修记录，获取故障点的良率，通过聚类分析故障点的良率，得到故障点中的正常点；基于历史失效分析记录，统计正常点的故障发生概率；

基于失效分析知识图谱，对正常点名称与各检测流程下各检测步骤实体关联的零件实体名称进行匹配，将正常点的故障发生概率作为相应检测步骤实体的故障发生概率；根据检测步骤实体及实体间的关系，获取各检测流程下具有顺序的检测步骤，作为初始步骤集合；

根据检测步骤实体的故障发生概率，对各初始步骤集合中的检测步骤顺序进行调整，根据调整后的各初始步骤集合，分别得到调整后的失效分析检测流程。

基于上述方法的进一步改进，失效分析知识图谱包括：物理结构类实体，故障现象类实体，检测流程类实体，以及实体间的关系；其中，物理结构类实体包括零件实体和线路实体，故障现象类实体包括检测项目实体和测试命令实体；检测流程类实体包括检测步骤实体和检测结果实体。

基于上述方法的进一步改进，基于历史维修记录，获取故障点的良率，通过聚类分析故障点的良率，得到故障点中的正常点，包括：

基于历史维修记录，按周期统计出其中故障点的良率；

去除良率不符合西格玛原则的故障点，得到待聚类的故障点；

采用密度聚类算法，根据待聚类的故障点同一周期的良率和预置的邻域半径，对待聚类的故障点进行聚类，得到聚类的各类别；将故障点数量大于等于数量阈值的类别中的故障点作为正常点。

基于上述方法的进一步改进，根据检测步骤实体及实体间的关系，获取各检测流程下具有顺序的检测步骤，作为初始步骤集合，包括：

基于失效分析知识图谱，获取各检测流程下各检测步骤实体；

对每个检测流程，将具有预置的第一步操作步骤编码的检测步骤实体作为第一步操作，根据第一步操作关联的检测正常和不正常的下一步操作关系，分别递归获取下一步操作对应的检测步骤实体，直至当前检测步骤实体不存在检测正常和不正常的下一步操作关系，得到当前检测流程的初始步骤集合。