[发明专利]一种老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统

说明书

本申请涉及老炼电路的电性能测试领域，提供了一种老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统。该方法包括：在M个待测参数的种排序方式下，获取所述M个待测参数中，每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；获取除了所述第1参数至第i‑1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：。通过上述方法，可以有效解决老炼电路的参数测量时间长、效率低的问题。

技术领域

本申请涉及老炼电路的电性能测试领域，更具体地，涉及一种老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统。

背景技术

对于具有统计意义数量的电子元器件，可能在刚开始工作时失效率很高，这是电子元器件的早期失效。老炼工序是指，模拟电子元器件的工作条件，在工作一段时间后，将失效元器件排除，从而使该批次的电子元器件度过早期失效阶段，进入故障率相对较低且稳定的阶段。

目前，通常只对电子元器件的直流漏电流进行老炼检测和筛选，例如专利号为CN106383275A的专利文件。但在宇航级器件等筛选度要求较高的场景下，还需考虑电子元器件的其他特性。若对电子元器件的其他参数也进行测量，则存在测量时间长、效率低的问题。

发明内容

本申请发明人在通过长期实践发现，若对电子元器件的其他参数也进行测量，例如，按照直流漏电流、容量、损耗角、等效电阻的顺序依次对电子元器件的这四个参数进行测量，由于电子元器件的失效原因各不相同，因此，存在测量时间长、效率低的问题。

基于此，本申请提出了一种老炼电路的参数测量顺序确定方法，在待测参数的所有排序方式下，获取每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；获取除了第1参数至第i-1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：。如此，可以有效解决老炼电路的参数测量时间长、效率低的问题。

第一方面，提供了一种老炼电路的参数测量顺序确定方法，该方法包括：在M个待测参数的种排序方式下，获取所述M个待测参数中，每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；获取除了所述第1参数至第i-1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：。

第二方面，还提供了一种老炼电路的参数测量顺序确定系统，该系统包括：老炼电路和控制设备，控制设备用于接收对所述老炼电路的M个待测参数进行测量时的失效信息，并用于计算对所述老炼电路的每个待测参数进行测量时的目标失效率，以及用于以上述方法确定所述老炼电路的参数测量顺序。

综上所述，本申请至少具有如下技术效果：

1.本申请提供的其中一种老炼电路的参数测量顺序确定方法，通过在所有排序方式中，将测量顺序为1或i时目标失效率最大的待测参数作为目标顺序排第1或i的参数，从而将最容易影响电子元器件失效的待测参数尽可能地放在前面测量，先排除掉较多的失效元器件，在对后面的参数进行测量时，需要测量的元器件数量减小，从而缩短了测量时间、提升了测量效率。