[发明专利]一种老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统

权利要求书

1.一种老炼电路的参数测量顺序确定方法，其特征在于，所述方法包括：

S110.在M个待测参数的种排序方式下，获取所述M个待测参数中，每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；

S120.获取除了所述第1参数至第i-1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：；

每个待测参数在测量顺序为1或i时的目标失效率的获取方法为：

以所述种排序方式对所述M个待测参数进行次测量，获取每个待测参数在测量顺序为1或i时的实际失效率，将每个待测参数在测量顺序为1或i时的实际失效率的最大值或平均值，分别作为该待测参数在测量顺序为1或i时的目标失效率，其中，所述实际失效率为在测量待测参数时，失效的元器件个数与元器件总数之比。

2.根据权利要求1所述的老炼电路的参数测量顺序确定方法，其特征在于，所述M个待测参数为直流漏电流、容量、损耗角、等效电阻中的至少两种。

3.一种老炼电路的参数测量顺序确定方法，其特征在于，所述方法包括：

S110.在M个待测参数的种排序方式下，获取所述M个待测参数中，每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；

S120.获取除了所述第1参数至第i-1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：；

每个待测参数在测量顺序为1或i时的目标失效率的获取方法为包括：

以所述种排序方式对所述M个待测参数进行次测量，分别获取每个待测参数在测量顺序为1或i时的实际失效率；

根据每个待测参数在测量顺序为1或i时的实际失效率和其他待测参数的实际失效率，分别获得该待测参数在测量顺序为1或i时的理论失效率，将每个待测参数在测量顺序为1或i时的理论失效率的最大值或平均值，分别作为该待测参数在测量顺序为1或i时的目标失效率，其中，所述实际失效率为在测量待测参数时，失效的元器件个数与元器件总数之比；

所述每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率的获取方法为：

S111.对于所述M个待测参数，在待测参数的测量顺序为1的所有排序方式中，分别获取所述待测参数的实际失效率，且所述待测参数的理论失效率的值等于实际失效率的值，将所述待测参数在测量顺序为1时的理论失效率的最大值或平均值，作为所述待测参数在测量顺序为1时的目标失效率；

S112.在待测参数的测量顺序分别为1的所有排序方式中，以所述S111的方式分别获取所述待测参数的理论失效率，并将所述待测参数在测量顺序分别为1时的理论失效率的最大值或平均值，分别作为所述待测参数测量顺序为1时的目标失效率；

所述每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率的获取方法为：

S113.若在所述种排序方式中的第j种排序方式中，待测参数的测量顺序为k，则获取所述待测参数的实际失效率，根据获取所述待测参数的理论失效率，将所述待测参数在第j种排序方式中的理论失效率作为所述待测参数在测量顺序为i=k时的理论失效率之一，其中，q为顺序标号，；

S114.令，在所述待测参数的测量顺序为i=k的所有排序方式中，以所述S113的方式分别获取所述待测参数的理论失效率，将所述待测参数在测量顺序为i=k时的理论失效率的最大值或平均值，作为所述待测参数在测量顺序为i=k时的目标失效率，k依次取值：；

S115.在待测参数的测量顺序分别为i=k的所有排序方式中，以所述S113和所述S114的方式分别获取所述待测参数的理论失效率，并将所述待测参数在测量顺序分别为i=k时的理论失效率的最大值或平均值，分别作为所述待测参数在测量顺序为i=k时的目标失效率。

4.根据权利要求3所述的老炼电路的参数测量顺序确定方法，其特征在于，所述M个待测参数为直流漏电流、容量、损耗角、等效电阻中的至少两种。

5.一种老炼电路的参数测量顺序确定系统，其特征在于，包括：

老炼电路；

控制设备，所述控制设备用于接收对所述老炼电路的M个待测参数进行测量时的失效信息，并用于计算对所述老炼电路的每个待测参数进行测量时的目标失效率，以及用于以如权利要求1至4任一所述的方法确定所述老炼电路的参数测量顺序。