[发明专利]确定屏幕漏光的跌落深度的方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种确定屏幕漏光的跌落深度的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据垂直同步信号，获取采样数据；

根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列，所述第一采样序列为屏幕漏光跌落波形的跌落区的采样序列，所述第二采样序列为所述屏幕漏光跌落波形的跌落区左侧的采样序列，所述第三采样序列为所述屏幕漏光跌落波形的跌落区右侧的采样序列；

根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定所述跌落深度；

所述根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定所述跌落深度包括：

根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定跌落深度序列；

根据所述跌落深度序列确定所述跌落深度；

所述根据所述第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列确定跌落深度序列包括：

根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列；或

根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列；或

根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列；

在所述屏幕漏光的跌落频率高于环境光频闪频率且所述屏幕漏光的跌落频率与所述环境光频闪频率不是倍频关系时，根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列；或根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列；

在所述屏幕漏光的跌落频率与环境光频闪频率相近或所述屏幕漏光的跌落频率与所述环境光频闪频率是倍频关系时，根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列；

所述根据所述第一采样序列、所述第二采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列包括：

计算所述第二采样序列和所述第三采样序列在所述第一采样序列对应的时序位置的插值运算结果以获取第四采样序列；

计算所述第四采样序列与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据垂直同步信号，获取采样数据包括：

接收所述屏幕发送的垂直同步信号，经过第一时延后获取所述采样数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样数据，确定第一采样序列，以及第二采样序列和/或第三采样序列包括：

根据信噪比需求，对所述采样数据进行滤波处理；

根据滤波后的所述采样数据确定所述第一采样序列，以及所述第二采样序列和/或所述第三采样序列。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述跌落深度序列包括：

确定所述第二采样序列中第一时序位置附近M个采样点对应的采样数据的平均值为第一最大值，M为正整数；或

确定所述第二采样序列中数值最大的采样数据对应的时序位置附近M个采样点对应的采样数据的平均值为第一最大值，M为正整数；

计算所述第一最大值与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一采样序列和所述第三采样序列确定所述跌落深度序列包括：

确定所述第三采样序列中第二时序位置附近N个采样点对应的采样数据的平均值为第二最大值，N为正整数；或

确定所述第三采样序列中数值最大的采样数据对应的时序位置附近N个采样点对应的采样数据的平均值为第二最大值，N为正整数；

计算所述第二最大值与所述第一采样序列的差值以确定所述跌落深度序列。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述跌落深度序列确定所述跌落深度包括：

根据所述跌落深度序列中固定的数据确定所述跌落深度；或

根据所述跌落深度序列中变化的数据确定所述跌落深度。