[发明专利]诊断设备、诊断方法以及存储诊断指令的非暂时性计算机可读记录介质在审
申请号: | 202211201502.1 | 申请日: | 2022-09-29 |
公开(公告)号: | CN115877216A | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 吉武哲;赤崛浩司;数见昌弘 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01R31/367 | 分类号: | G01R31/367;H01M10/48 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 施浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 诊断 设备 方法 以及 存储 指令 暂时性 计算机 可读 记录 介质 | ||
本公开提供了一种诊断设备,该诊断设备包括计算器,该计算器基于测量Q‑V曲线与参考Q‑V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容量相关的值,测量Q‑V曲线指示从电池单元的测量数据获得的电压和积分电流量之间的关系。计算器还通过将测量Q‑V曲线的斜率乘以测量Q‑V曲线与参考Q‑V曲线之间的电压差,计算由该电压差引起的容量衰退量,并且计算在由测量Q‑V曲线的斜率相对于参考Q‑V曲线的斜率的变化引起的容量衰退之后的临时最大容量。
相关申请的交叉引用
本申请要求2021年9月30日提交的日本专利申请第2021-161867号的优先 权,其全部内容通过援引加入本文。
技术领域
本发明涉及一种诊断设备、一种诊断方法以及一种存储诊断指令的非暂时 性计算机可读记录介质。
背景技术
已经提出了用于诊断电池单元的容量的各种方法(例如,参见JP 2016-145795A)。
指示电池单元特性的方式包括指示电压和积分电流量之间的关系的Q-V曲 线。考虑根据Q-V曲线诊断电池单元的容量的方法,现在仍留有空间。
发明内容
本发明的一个或多个实施例能够根据Q-V曲线来诊断电池单元的容量。
根据本发明实施例的一个或多个实施例,一种诊断设备包括计算器,该计 算器基于测量Q-V曲线与参考Q-V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容 量相关的值,所述测量Q-V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和 积分电流量之间的关系,其中,所述计算器包括以下中的至少一个:第一计算 器,该第一计算器通过将所述测量Q-V曲线的斜率乘以所述测量Q-V曲线与所 述参考Q-V曲线之间的电压差,计算由该电压差引起的容量衰退量;以及第二 计算器,该第二计算器通过将所述测量Q-V曲线的斜率与所述参考Q-V曲线的 斜率之间的比率乘以参考最大容量,计算由所述测量Q-V曲线的斜率相对于所 述参考Q-V曲线的斜率的变化而引起的容量衰退后的临时最大容量。
根据本发明实施例的一个或多个实施例,一种诊断设备包括计算器,该计 算器通过使用近似指示电池单元的电压和积分电流量之间关系的Q-V曲线的函 数模型,计算与所述电池单元的容量相关的值,其中,所述计算器包括:函数 模型生成器,该函数模型生成器生成拟合至参考Q-V曲线的函数模型;拟合单 元,该拟合单元将由所述函数模型生成器生成的函数模型对所述电池单元的测 量数据进行拟合;最大容量计算器,该最大容量计算器通过使用由所述拟合单 元进行拟合后的函数模型,计算所述电池单元的最大容量。
根据本发明实施例的一个或多个实施例,一种诊断方法包括基于测量Q-V 曲线与参考Q-V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容量相关的值,所述 测量Q-V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和积分电流量之间的 关系,其中,所述计算包括以下中的至少一个:通过将所述测量Q-V曲线的斜 率乘以所述测量Q-V曲线与所述参考Q-V曲线之间的电压差,计算由该电压差 引起的容量衰退量;以及通过将所述测量Q-V曲线的斜率与所述参考Q-V曲线 的斜率之间的比率乘以参考最大容量,计算由所述测量Q-V曲线的斜率相对于 所述参考Q-V曲线的斜率的变化而引起的容量衰退后的临时最大容量。
根据本发明实施例的一个或多个实施例,一种诊断方法包括通过使用近似 指示电池单元的电压和积分电流量之间关系的Q-V曲线的函数模型来计算与该 电池单元的容量相关的值,其中,所述计算包括:生成拟合至参考Q-V曲线的 函数模型;将已经生成的所述函数模型对所述电池单元的测量数据进行拟合; 并且通过使用拟合后的函数模型,计算所述电池单元的最大容量。
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