[发明专利]诊断设备、诊断方法以及存储诊断指令的非暂时性计算机可读记录介质在审

专利信息
申请号: 202211201502.1 申请日: 2022-09-29
公开(公告)号: CN115877216A 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 吉武哲;赤崛浩司;数见昌弘 申请(专利权)人: 横河电机株式会社
主分类号: G01R31/367 分类号: G01R31/367;H01M10/48
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 施浩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 诊断 设备 方法 以及 存储 指令 暂时性 计算机 可读 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种诊断设备,包括:

计算器,该计算器基于测量Q-V曲线与参考Q-V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容量相关的值,所述测量Q-V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和积分电流量之间的关系,其中,

所述计算器还计算以下中的至少一个:

通过将所述测量Q-V曲线的斜率乘以所述测量Q-V曲线与所述参考Q-V曲线之间的电压差得到的由所述电压差引起的容量衰退量;以及

通过将所述测量Q-V曲线的斜率与所述参考Q-V曲线的斜率之间的比率乘以参考最大容量得到的在由所述测量Q-V曲线的斜率相对于所述参考Q-V曲线的斜率的变化引起的容量衰退之后的临时最大容量。

2.根据权利要求1所述的诊断设备,其中,所述计算器还通过从计算出的所述临时最大容量中减去计算出的所述容量衰退量,计算所述电池单元的最大容量。

3.根据权利要求1或2所述的诊断设备,其中,所述电压差是所述测量Q-V曲线的微分曲线的特征点与所述参考Q-V曲线的另一微分曲线的另一特征点之间的电压差。

4.根据权利要求3所述的诊断设备,其中,

所述特征点是在所述微分曲线中首次出现的局部最大值,

所述另一特征点是在所述另一微分曲线中首次出现的局部最大值,

所述测量Q-V曲线的斜率是在等于或大于所述特征点的电压的电压下的斜率,并且

所述参考Q-V曲线的斜率是在等于或大于所述另一特征点的电压的电压下的斜率。

5.一种诊断设备,包括:

计算器,该计算器:

基于近似指示电池单元的电压与所述电池单元的积分电流量之间的关系的Q-V曲线的函数模型,计算与所述电池单元的容量相关的值,

生成拟合至参考Q-V曲线的函数模型,

将所生成的函数模型对所述电池单元的测量数据进行拟合,并且

基于拟合后的函数模型,计算所述电池单元的最大容量。

6.根据权利要求5所述的诊断设备,其中,所述计算器将拟合前的函数模型的微分曲线中的特征点的位置与所述拟合后的函数模型的另一微分曲线中的另一特征点的另一位置进行对准。

7.根据权利要求6所述的诊断设备,其中,

所述特征点是在所述微分曲线中首次出现的局部最大值,

所述另一特征点是在所述另一微分曲线中首次出现的局部最大值,

所述拟合前的函数模型是在等于或大于所述特征点的电压的电压下的函数模型,并且

所述拟合后的函数模型是在等于或大于所述另一特征点的电压的电压下的函数模型。

8.一种诊断方法,包括:

基于测量Q-V曲线与参考Q-V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容量相关的值,所述测量Q-V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和积分电流量之间的关系;并且

计算以下中的至少一个:

通过将所述测量Q-V曲线的斜率乘以所述测量Q-V曲线与所述参考Q-V曲线之间的电压差得到的由所述电压差引起的容量衰退量;以及

通过将所述测量Q-V曲线的斜率与所述参考Q-V曲线的斜率之间的比率乘以参考最大容量得到的在由所述测量Q-V曲线的斜率相对于所述参考Q-V曲线的斜率的变化引起的容量衰退之后的临时最大容量。

9.一种诊断方法,包括:

基于近似指示电池单元的电压与所述电池单元的积分电流量之间的关系的Q-V曲线的函数模型,计算与所述电池单元的容量相关的值;

生成拟合至参考Q-V曲线的函数模型;

将所生成的函数模型对所述电池单元的测量数据进行拟合;并且

基于拟合后的函数模型,计算所述电池单元的最大容量。

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