[发明专利]一种检测制壳过程中蜡模模组变形的方法

权利要求书

1.一种检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，包括：依据制壳工装(1)上的基准台(2)与蜡模模组(5)外周的陶瓷芯(3)在多次制壳时的位置对比获得蜡模模组(5)在制壳过程中的尺寸变形规律的步骤过程。

2.如权利要求1所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于：所述步骤过程具体为依次进行基准台、陶瓷芯的成型；安装蜡模模组；安装陶瓷芯；获取数据零位；制壳；检测及数据处理的七个步骤。

3.如权利要求2所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，所述基准台、陶瓷芯的成型步骤为：制壳工装(1)有基准台(2)，基准台(2)具有五个相互垂直的面分别为基准宽度面A(21)、基准宽度面B(23)、基准长度面A(22)、基准长度面B(24)、基准高度面(25)；制作出用于检测蜡模模组(5)变形的陶瓷芯(3)，陶瓷芯(3)具有两个相互垂直的面分别为蜡模模组高度面(31)、蜡模模组椭圆面(32)。

4.如权利要求2所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，所述安装蜡模模组步骤为：蜡模模组(5)通过蜡模模组支撑柱(4)按产品工艺要求正常装到制壳工装(1)上。

5.如权利要求2所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，所述安装陶瓷芯步骤为：在蜡模模组(5)的外环补缩冒口上，沿周圈，将陶瓷芯(3)非检测的小端均布插入补缩冒口中并进行固定。

6.如权利要求2所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，所述获取数据零位步骤为：蓝光扫描检测制壳工装(1)上基准台(2)的基准宽度面A(21)、基准长度面A(22)、基准宽度面B(23)、基准长度面B(24)、基准高度面(25)及陶瓷芯(3)上蜡模模组高度面(31)、蜡模模组椭圆面(32)，并把此时所有的陶瓷芯(3)检测面与基准台(2)检测面的位置关系数据作为初始检测数据零位。

7.如权利要求2所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，所述制壳步骤为：保鲜膜把制壳工装(1)、基准台(2)及陶瓷芯(3)进行包裹保护，蜡模模组(5)按产品工艺要求正常制壳。

8.如权利要求2所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，所述检测步骤为：把保鲜膜去除，使用蓝光扫描基准台(2)的基准宽度面A(21)、基准长度面A(22)、基准宽度面B(23)、基准长度面B(24)、基准高度面(25)及陶瓷芯(3)上蜡模模组高度面(31)、蜡模模组椭圆面(32)进行检测，记录陶瓷芯(3)检测面与基准台(2)检测面的位置关系数据，检测后，使用保鲜膜把把制壳工装(1)、基准台(2)及陶瓷芯(3)进行包裹保护，按产品工艺要求进行下一层制壳，反复制壳和检测步骤，直至对蜡模模组(5)壳体所有层数制完，结束反复。

9.如权利要求2所述的检测制壳过程中蜡模模组变形的方法，其特征在于，所述数据处理步骤为：将蜡模模组(5)每一层制壳的检测数据均与步骤四中的初始检测数据零位一一作对比，检测所有陶瓷芯(3)的蜡模模组高度面(31)位置变化情况，蜡模模组高度面(31)位置变化情况数据即为蜡模模组(5)高度方向的尺寸变化情况；检测所有陶瓷芯(3)的蜡模模组椭圆面(32)的位置变化情况，蜡模模组椭圆面(32)位置变化情况数据即为蜡模模组椭圆度的尺寸变化情况；统计所有制壳层数的蜡模模组(5)高度方向蜡模模组高度面(31)的尺寸变化情况，得出蜡模模组(5)高度方向尺寸变形规律；统计所有制壳层数的蜡模模组(5)圆度方向蜡模模组椭圆面(32)的尺寸变化情况，得出蜡模模组椭圆度变形规律。