[发明专利]一种PVD镀膜方法在审

专利信息
申请号: 202211147777.1 申请日: 2022-09-21
公开(公告)号: CN115466923A 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 金浩星;朱喆;赵凤松;郭庆彬;张彦峰;闫小瑞 申请(专利权)人: 深圳市和胜金属技术有限公司
主分类号: C23C14/02 分类号: C23C14/02;C23C14/50;C23C14/58
代理公司: 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526 代理人: 李捷
地址: 518000 广东省深圳市光*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 pvd 镀膜 方法
【权利要求书】:

1.一种PVD镀膜方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:第一次清洁工件,所述工件表面干燥、且粗糙度小于Ra0.1;

S2:将所述S1中的工件送入HKS-G设备内,所述工件与所述HKS-G设备内的PVD镀膜夹具连接;

S3:HKS-G设备加热工件,其包括:

S31:通过抽真空设备将所述HKS-G设备抽真空;

S32:启动S31中抽真空后的HKS-G设备运行,所述PVD镀膜夹具带动所述工件转动;

S33:以时间为单位,所述HKS-G设备内的加热装置对工件进行加热;

S4:第二次清洁工件,所述第二次清洁工件用于去除工件表面氧化物;

S5:将S4中去除表面氧化物后的工件进行镀膜;

S6:将S5中镀膜后的工件进行预冷;

S7:将S6中预冷后的工件从HKS-G设备取出,然后将所述工件进行抛光,从而得到工件成品。

2.根据权利要求1所述的PVD镀膜方法,其特征在于,所述加热装置调节所述HKS-G设备内的温度;所述S33包括:

S331:将所述HKS-G设备内温度设置在750~850度,持续10~20分钟;

S332:将所述HKS-G设备内温度设置在450~550度,持续180~220分钟;

S333:将所述HKS-G设备内温度设置在400~500度,持续80~100分钟。

3.根据权利要求1所述的PVD镀膜方法,其特征在于,所述S4包括:

S41:往所述HKS-G设备通入气体,使得所述HKS-G设备内气压介于0.005-0.015Pa之间;

S42:金属轰击清洁工件,启动第一靶材,将第一靶材以80~150A的电流以及300~1000V的偏压,将第一靶材离子化,离子化的第一靶材与工件表面的氧化物碰撞,从而去除工件表面氧化物;

S43:氧化物脱离工件表面后,被所述真空设备通过真空吸附排出HKS-G设备。

4.根据权利要求3所述的PVD镀膜方法,其特征在于,以时间为单位,所述S42包括:

S421:以300~1000V的偏压,轰击工件5分钟;以及

S422:以 500~800V的偏压,轰击工件5分钟;

其中,所述S421与所述S422之间设置有3~5分钟的间隔时间,所述S42设置有若干组,且若干组所述S42之间均设置有3~5分钟的间隔时间。

5.根据权利要求1所述的PVD镀膜方法,其特征在于,所述S5包括:

S51:往所述HKS-G设备通入气体,使得所述HKS-G设备内气压介于0.005-0.015Pa之间;

S52:启动所述HKS-G设备,使得HKS-G设备内的PVD镀膜夹具带动工件转动;

S53:以时间为单位,分阶段将靶材离子化,沉积在所述工件表面,从而形成涂层。

6.根据权利要求5所述的PVD镀膜方法,其特征在于,所述S53包括:

S531:所述HKS-G设备内偏压设置在30~50V,第一靶材施加120~150A的电流、以及1~2Pa的压力,将所述第一靶材离子化并沉积在所述工件表面,持续120分钟,从而形成第一膜层;

S532:所述HKS-G设备内偏压设置在30~50V,第二靶材施加 140~160A 电流、以及1~2Pa的压力,将第二靶材离子化并沉积在所述第一膜层表面,持续20分钟,从而形成第二膜层;

S533:所述HKS-G设备内偏压设置在50~80V ,第三靶材施加140~160A的电流、以及,3~5Pa的压力,将所述第三靶材离子化并沉积在所述第二膜层表面,持续 120分钟,从而形成第三膜层,所述工件完成镀膜操作。

7.根据权利要求1所述的PVD镀膜方法,其特征在于,所述S6包括:

S61:将所述HKS-G设备抽真空至1.0X10-3pa以下;

S62:当所述HKS-G设备内部温度小于200℃,充入降压气体,取出工件。

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