[发明专利]一种基于定位标记的计算机可视化子孔径拼接方法在审

专利信息
申请号: 202211120024.1 申请日: 2022-09-14
公开(公告)号: CN115560698A 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 李昂;王永刚;孟晓辉;王刚;白云立;陈思羽;王培培 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G06V10/10;G06T7/62;G06T7/70
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 刘秀祥
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 定位 标记 计算机 可视化 孔径 拼接 方法
【权利要求书】:

1.一种基于定位标记的计算机可视化子孔径拼接方法,其特征在于,包括:

根据平面镜口径、形状以及干涉仪检测口径划分待测子孔径的数量和位置;所有子孔径的并集完全覆盖整个平面镜镜面区域,且至少确保每个子孔径都存在重叠区域;

根据划分的子孔径位置,确定出所有的子孔径的重叠区域,在重叠次数中做定位标记点;

使用干涉仪对每个子孔径进行面形检测,并获取定位标记点的面形数据;

利用每个子孔径上定位标记点的面形数据,对所有子孔径的面形检测结果进行定位;采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合。

2.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,在进行待测子孔径的数量和位置划分时,使子孔径之间的重叠面积最大,且子孔径数目尽量少。

3.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,当所有子孔径有共同的重叠区域时,仅在该共同重叠区域中采用三点式标记;否则在每个重叠区域内多的区域均采用三点式标记。

4.根据权利要求3所述的拼接方法,其特征在于,每个定位标记点口径为3~7个像素。

5.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,使用干涉仪对每个子孔径进行面形检测时,允许使用位移调整台对平面镜进行位置平移调整,以保证干涉仪采集的子孔径位置。

6.根据权利要求5所述的拼接方法,其特征在于,通过使用位移调整台对平面镜进行位置平移调整时,只采用平移操作或旋转的操作精度优于1°。

7.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,对所有子孔径的面形检测结果进行定位;采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合的方法为:

a、根据干涉仪检查分辨率和平面镜镜面的全口径尺寸,计算出平面镜镜面全口径行列像素数,并根据行列像素数生成空白的拼接面板;

b、加载一个子孔径面形到拼接面板,调整该子孔径面形在拼接面板的方位,并将该子孔径面形固定在拼接面板上;

c、加载一个与上述子孔径面形存在重叠的子孔径面形到拼接面板;

d、调整新加载的子孔径面形的位置,使两个子孔径面形的重叠区域定位标记点重合,确定新加载的子孔径面形的位置并固定;

e、对上述两个子孔径面形数据采用最小二乘法进行最优化贴合,得到中间拼接结果;

f、固定中间拼接结果到拼接面板,返回步骤c继续加载新的子孔径面形,直至所有的子孔径面形都拼接和贴合完毕,并导出最终的拼接结果数据。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的拼接方法,其特征在于,采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合前,建立子孔径面形间的平移倾斜误差模型。

9.根据权利要求8所述的拼接方法,其特征在于,子孔径面形间的平移倾斜误差模型为:

设w1(x,y)、w2(x,y)分别表示干涉仪测得的两个子孔径的相位值,则:

w1(x,y)=a1x+b1y+c1+w10(x,y)

w2(x,y)=a2x+b2y+c2+w20(x,y)

式中:w10、w20分别表示两个子孔径的实际相位值;ai、bi表示子孔径i沿x、y方向的倾斜量;ci表示子孔径i沿光轴方向的平移量。

10.根据权利要求1至7中任一项所述的拼接方法,其特征在于,采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合过程中,利用拼接因子,对处于子孔径重叠区的相位数据进行加权平滑。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京空间机电研究所,未经北京空间机电研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211120024.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top