[发明专利]一种基于定位标记的计算机可视化子孔径拼接方法在审
申请号: | 202211120024.1 | 申请日: | 2022-09-14 |
公开(公告)号: | CN115560698A | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 李昂;王永刚;孟晓辉;王刚;白云立;陈思羽;王培培 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G06V10/10;G06T7/62;G06T7/70 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 刘秀祥 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 定位 标记 计算机 可视化 孔径 拼接 方法 | ||
1.一种基于定位标记的计算机可视化子孔径拼接方法,其特征在于,包括:
根据平面镜口径、形状以及干涉仪检测口径划分待测子孔径的数量和位置;所有子孔径的并集完全覆盖整个平面镜镜面区域,且至少确保每个子孔径都存在重叠区域;
根据划分的子孔径位置,确定出所有的子孔径的重叠区域,在重叠次数中做定位标记点;
使用干涉仪对每个子孔径进行面形检测,并获取定位标记点的面形数据;
利用每个子孔径上定位标记点的面形数据,对所有子孔径的面形检测结果进行定位;采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合。
2.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,在进行待测子孔径的数量和位置划分时,使子孔径之间的重叠面积最大,且子孔径数目尽量少。
3.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,当所有子孔径有共同的重叠区域时,仅在该共同重叠区域中采用三点式标记;否则在每个重叠区域内多的区域均采用三点式标记。
4.根据权利要求3所述的拼接方法,其特征在于,每个定位标记点口径为3~7个像素。
5.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,使用干涉仪对每个子孔径进行面形检测时,允许使用位移调整台对平面镜进行位置平移调整,以保证干涉仪采集的子孔径位置。
6.根据权利要求5所述的拼接方法,其特征在于,通过使用位移调整台对平面镜进行位置平移调整时,只采用平移操作或旋转的操作精度优于1°。
7.根据权利要求1所述的拼接方法,其特征在于,对所有子孔径的面形检测结果进行定位;采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合的方法为:
a、根据干涉仪检查分辨率和平面镜镜面的全口径尺寸,计算出平面镜镜面全口径行列像素数,并根据行列像素数生成空白的拼接面板;
b、加载一个子孔径面形到拼接面板,调整该子孔径面形在拼接面板的方位,并将该子孔径面形固定在拼接面板上;
c、加载一个与上述子孔径面形存在重叠的子孔径面形到拼接面板;
d、调整新加载的子孔径面形的位置,使两个子孔径面形的重叠区域定位标记点重合,确定新加载的子孔径面形的位置并固定;
e、对上述两个子孔径面形数据采用最小二乘法进行最优化贴合,得到中间拼接结果;
f、固定中间拼接结果到拼接面板,返回步骤c继续加载新的子孔径面形,直至所有的子孔径面形都拼接和贴合完毕,并导出最终的拼接结果数据。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的拼接方法,其特征在于,采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合前,建立子孔径面形间的平移倾斜误差模型。
9.根据权利要求8所述的拼接方法,其特征在于,子孔径面形间的平移倾斜误差模型为:
设w1(x,y)、w2(x,y)分别表示干涉仪测得的两个子孔径的相位值,则:
w1(x,y)=a1x+b1y+c1+w10(x,y)
w2(x,y)=a2x+b2y+c2+w20(x,y)
式中:w10、w20分别表示两个子孔径的实际相位值;ai、bi表示子孔径i沿x、y方向的倾斜量;ci表示子孔径i沿光轴方向的平移量。
10.根据权利要求1至7中任一项所述的拼接方法,其特征在于,采用最小二乘法对子孔径面形数据进行贴合过程中,利用拼接因子,对处于子孔径重叠区的相位数据进行加权平滑。
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