[发明专利]一种巷道形变检测方法、系统、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202211085835.2 申请日: 2022-09-06
公开(公告)号: CN115143901B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 赵辉;徐兴平;尹志生;谢军国 申请(专利权)人: 苏州同人激光科技有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 王金双
地址: 215200 江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度假*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 巷道 形变 检测 方法 系统 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种巷道形变检测方法,包括,

将多个激光测距组件间隔交叉设置在巷道的两个侧壁上,在所述巷道中形成多个用于检测形变的横截面;

获取所述横截面的多个初始测距;其中所述多个初始测距,包括多个初始顶壁测距、多个初始底面测距和多个初始侧壁测距;

采集与每个初始测距对应的当前测距,以获得多个当前测距;其中所述多个当前测距包括多个当前顶壁测距、多个当前底面测距和多个当前侧壁测距;

基于所述多个初始测距和对应的多个当前测距,确定多个形变值,以获取形变峭度值和形变平均值;所述形变平均值,包括顶壁形变平均值、底面形变平均值和侧壁形变平均值;所述形变峭度值,包括顶壁形变峭度值、底面形变峭度值和侧壁形变峭度值;其中所述顶壁形变峭度值通过以下方式获取:

其中,K1为所述顶壁形变峭度值,xi为根据所述初始顶壁测距和所述当前顶壁测距确定的顶壁形变值,u为所述顶壁形变平均值,n为所述顶壁形变值的个数,且n≥50;

响应于所述顶壁形变峭度值小于第一阈值,或响应于所述底面形变峭度值小于第二阈值,或响应于所述侧壁形变峭度值小于第三阈值,且响应于所述形变平均值小于第四阈值,确定所述巷道在所述横截面处发生形变;其中所述第一阈值大于所述第三阈值,且所述第三阈值大于所述第二阈值;

响应于所述巷道在所述横截面处发生形变,发送提醒信息;

所述方法还包括:

采集所述横截面的顶壁的沉降数据;

根据所述沉降数据确定修正值;

根据所述修正值对所述第一阈值进行修正。

2.根据权利要求1所述的巷道形变检测方法,其特征在于,所述响应于所述巷道在所述横截面处发生形变,发送提醒信息的步骤,包括:

响应于所述巷道在所述横截面处发生形变,获取所述横截面的位置信息;

发送包括所述位置信息的所述提醒信息。

3.根据权利要求1所述的巷道形变检测方法,其特征在于,在采集所述多个当前底面测距前,对所述多个当前底面测距对应的采集区域进行除尘。

4.一种巷道形变检测系统,其特征在于,包括多个间隔交叉设置在巷道的两个侧壁上的激光测距组件,每一个所述激光测距组件,在巷道中形成一个检测形变的横截面,包括,

第一获取模块,用于获取所述横截面的多个初始测距;其中所述多个初始测距,包括多个初始顶壁测距、多个初始底面测距和多个初始侧壁测距;

数据采集模块,包括可旋转测距的三个激光测距单元;所述三个激光测距单元,用于分别测量所述激光测距组件到所述巷道的顶壁、侧壁和底面的距离;所述数据采集模块,用于采集与每个初始测距对应的当前测距,以获得多个当前测距;其中所述多个当前测距包括多个当前顶壁测距、多个当前底面测距和多个当前侧壁测距;

第二获取模块,用于基于所述多个初始测距和对应的多个当前测距,确定多个形变值,以获取形变峭度值和形变平均值;所述形变平均值,包括顶壁形变平均值、底面形变平均值和侧壁形变平均值;所述形变峭度值,包括顶壁形变峭度值、底面形变峭度值和侧壁形变峭度值;其中所述顶壁形变峭度值通过以下方式获取:

其中,K1为所述顶壁形变峭度值,xi为根据所述初始顶壁测距和所述当前顶壁测距确定的顶壁形变值,u为所述顶壁形变平均值,n为所述顶壁形变值的个数,且n≥50;

确定模块,用于响应于所述顶壁形变峭度值小于第一阈值,或响应于所述底面形变峭度值小于第二阈值,或响应于所述侧壁形变峭度值小于第三阈值,且响应于所述形变平均值小于第四阈值,确定所述巷道在所述横截面处发生形变;其中所述第一阈值大于所述第三阈值,且所述第三阈值大于所述第二阈值;

提醒模块,用于响应于所述巷道在所述横截面处发生形变,发送提醒信息。

5.一种设备,其特征在于,所述设备包括:多个激光测距组件、存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时,实现如权利要求1-3中任一项所述的巷道形变检测方法。

6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机指令,当计算机指令运行时执行权利要求1-3任一项所述的巷道形变检测方法的步骤。

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