[发明专利]电机动子的位置测量方法、装置及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202211061361.8 申请日: 2022-08-31
公开(公告)号: CN115409807A 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 赵吉文;葛萍 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/73
代理公司: 北京众泽信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11701 代理人: 周振
地址: 230011 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 机动 位置 测量方法 装置 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种电机动子的位置测量方法,其特征在于,所述电机动子的位置测量方法包括以下步骤:

根据待测电机动子的移动行程确定目标图像的画幅长度,将该画幅长度划分为多段,每一段的目标图像选用不同参数的扫频余弦信号生成;

将生成的单段目标图像与混沌序列进行组合,生成非周期的目标图像;

按照一定的时间间隔获取指定位置目标图像的局部图像;

对相邻时间间隔获取的两幅图像进行图像匹配,得到该时间间隔下电机动子移动的距离。

2.根据权利要求1所述的电机动子的位置测量方法,其特征在于,所述扫频余弦信号记为I,I的选用满足:

其中A为变化幅度,是一常数值,f0是扫频余弦信号的初始频率,k为调频率,t为时间。

3.根据权利要求2所述的电机动子的位置测量方法,其特征在于,在生成非周期的目标图像时,利用反推法进行目标图像的优化,具体包括:

利用相位相关法计算每一幅局部图像中的整像素位移,以及利用梯度法计算每一幅局部图像中的亚像素位移,进而确定待优化图像参数,该优化图像参数至少包括f0和k;

利用粒子群算法确定最优的优化图像参数,并利用该优化图像参数优化目标图像;

将优化后的目标图像与混沌序列进行组合,生成非周期的目标图像。

4.根据权利要求3所述的电机动子的位置测量方法,其特征在于,所述的非周期的目标图像,通过将多个优化后的目标图像与混沌序列值相乘并随机组合生成。

5.根据权利要求4所述的电机动子的位置测量方法,其特征在于,所述目标图像中的纵向参数设置为一个定值,使得目标图像为栅栏条纹图像。

6.根据权利要求1所述的电机动子的位置测量方法,其特征在于,所述指定位置配置为:将生成的非周期的目标图像设置在电机底座上,并且目标图像的长度方向沿着电机动子的移动方向设置。

7.根据权利要求1所述的电机动子的位置测量方法,其特征在于,所述混沌序列选取一维Logistic映射,该一维Logistic映射的差分方程为:

n(r+1)=n(r)*μ*[1-n(r)],

其中μ为Logistic参数,r为序列元素,n(r)为所述混沌序列值。

8.一种电机动子的位置测量装置,其特征在于,该电机动子的位置测量装置包括:

目标图像生成模块,用于根据待测电机动子的移动行程确定目标图像的画幅长度,将该画幅长度划分为多段,每一段的目标图像选用不同参数的扫频余弦信号生成;

后处理模块,用于将生成的单段目标图像与混沌序列进行组合,生成非周期的目标图像;

图像采集模块,用于按照一定的时间间隔获取指定位置目标图像的局部图像;

图像计算模块,用于对相邻时间间隔获取的两幅图像进行图像匹配,得到该时间间隔下电机动子移动的距离。

9.根据权利要求8所述的电机动子的位置测量装置,其特征在于,所述电机动子的位置测量装置还包括:

图像参数优化模块,用于确定目标图像中待优化的图像参数,并利用确定的图像参数优化目标图像;

所述图像参数优化模块包括:相关计算单元和粒子群计算单元;

所述相关计算单元,用于对采集的相邻两幅图像的移动距离进行验证,来确定目标图像中待优化的图像参数;

所述粒子群计算单元,用于利用粒子群算法计算所述待优化的图像参数,生成最优的图像。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1至7中任一项权利要求所述电机动子的位置测量方法的步骤。

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