[发明专利]一种芯片仿真加速方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202211026233.X 申请日: 2022-08-25
公开(公告)号: CN115470748A 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 杨巍;周进;尹未秋;潘飞 申请(专利权)人: 芯原微电子(成都)有限公司;芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原科技(上海)有限公司;芯原微电子(南京)有限公司;芯原微电子(海南)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06F30/396;G06F115/06
代理公司: 北京维飞联创知识产权代理有限公司 11857 代理人: 杨荣武
地址: 610041 四川省成都市高新区天华*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 仿真 加速 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本申请涉及一种芯片仿真加速方法、装置、电子设备及存储介质,属于集成电路领域。该方法包括:获取综合网表、SDC约束文件和库文件;在完成物理布局布线之前,基于综合网表、SDC约束文件和库文件,模拟得到后仿真所需的SDF文件;根据SDF文件、综合网表进行后仿真模拟。该方法通过在完成物理布局布线之前,基于综合网表、SDC约束文件和库文件,提前模拟得到SDF文件,以便提前开展后仿真的调试和准备工作。提前开展后仿真,就意味着设计问题可能被提前发现,提前解决,也可以降低芯片开发的风险,也降低了因为设计问题导致流片时间推迟的风险。

技术领域

本申请属于集成电路领域,具体涉及一种芯片仿真加速方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

根据芯片前后端开发流程,在设计人员将RTL(Register Transfer Level,寄存器传输级)代码完成之后,会由前端设计流程团队编写时序约束SDC(Synopsys DesignConstraints,设计约束文件)文件,然后进行综合(synthesis)工作,得到综合网表(netlist)。综合工作完成之后,再由验证团队完成物理布局布线(Place Route,PR)工作以及完成时序收敛(timing closure)相关操作,最终生成用于流片(tapeout)的GDS11文件(是一个数据库文件格式),同时提供最终的后仿网表(post_netlist)与SDF(StandardDelay Format,标准延时格式)文件,验证团队需要根据此后仿网表、SDF文件以及ARL(Async Register List,为数字芯片设计中跨时钟域的第一拍寄存器的汇总名单)名单进行后仿真(post simulation),其原理图如图1所示。需要说明的是,图1为异步芯片从RTL代码到完成后仿真的整体流程原理示意图,若为同步芯片,则后仿真时不需要ARL名单。

由于芯片后仿真的速度相对很慢,后仿真环境的建立与调试需要很多的时间;同时后仿真测试用例的调试也需要很长的时间。另一方面,从验证团队给出最终的后仿网表与SDF文件到流片,这中间的时间间隔会很短,留给后仿真的时间非常紧迫。而后仿真的时间会极大的影响芯片开发和流片的进度。

发明内容

鉴于此,本申请的目的在于提供一种芯片仿真加速方法、装置、电子设备及存储介质,以改善当前技术中由于后仿真的时间非常紧迫,容易导致流片时间推迟的问题。

本申请的实施例是这样实现的:

第一方面,本申请实施例提供了一种芯片仿真加速方法,包括:获取综合网表、SDC约束文件和库文件;在完成物理布局布线之前基于所述综合网表、所述SDC约束文件和所述库文件,模拟得到后仿真所需的SDF文件;根据所述SDF文件、所述综合网表进行后仿真模拟。

本申请实施例中,通过在完成物理布局布线之前,基于综合网表、SDC约束文件和库文件,提前模拟得到SDF文件,以便提前开展(相对于真正后仿真而言)后仿真的调试和准备工作。提前开展后仿真,就意味着设计问题可能被提前发现,提前解决,也可以降低芯片开发的风险,也降低了因为设计问题导致流片时间推迟的风险。结合第一方面实施例的一种可能的实施方式,基于所述综合网表、所述SDC约束文件和所述库文件,模拟得到后仿真所需的SDF文件,包括:利用分析工具对所述综合网表、所述SDC约束文件和所述库文件进行静态时序分析,获取所述综合网表中的各个寄存器的时序信息;对所述综合网表中不满足时序要求的寄存器进行时序修正,以使该寄存器的时序信息满足时序要求;根据时序修正后的综合网表,模拟得到后仿真所需的所述SDF文件。

本申请实施例中,通过对综合网表中不满足时序要求的寄存器进行时序修正,以使该寄存器的时序信息满足时序要求,之后根据时序修正后的综合网表,模拟得到后仿真所需的SDF文件,此文件中的延迟信息是满足时序要求的,能让内部的寄存器采样正确,验证人员可以使用该模拟的SDF文件提前进行后仿真的准备。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于芯原微电子(成都)有限公司;芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原科技(上海)有限公司;芯原微电子(南京)有限公司;芯原微电子(海南)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司,未经芯原微电子(成都)有限公司;芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原科技(上海)有限公司;芯原微电子(南京)有限公司;芯原微电子(海南)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211026233.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top