[发明专利]一种芯片用测试机械臂

说明书

本发明公开了一种芯片用测试机械臂，包括机身导杆连接板，机身导杆连接板上连接有第一连接轴，第一连接轴转动连接有第一段臂，第一段臂转动连接有第二连接轴，第二连接轴连接有第二段臂，第二段臂连接有第三连接轴，第三连接轴转动连接有第三段臂，第三段臂连接有第四连接轴，第四连接轴转动连接有测试头固定臂，第三段臂的远离第四连接轴端设有顶杆，顶杆穿设于第三段臂上且分别与第三连接轴、第四连接轴垂直，第一段臂上设有弹力锁紧器。本发明的有益效果是：实现对测试头固定臂的前后、左右和上下移动及一定角度的旋转，实现对不同位置或角度的芯片的测试，适用性广泛；该测试机械臂的结构简单，易于加工制造，生产成本低，调节方便。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片用测试机械臂。

背景技术

随着科技的发展，芯片产业发展越来越快，芯片的小型化、多功能是现代芯片产业的发展趋势。由于芯片生产需经过几百步的工艺，任何一步的错误都可能导致器件失效，因此芯片测试环节至关重要。芯片在测试需要将芯片放置于芯片测试头和机台之间，通过测试机械臂驱动芯片测试头移动，实现芯片的测试。现有的机械臂的结构复杂，制造难度大，且制造成本高，同时维护保养难度大，不利于中小型企业的发展。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片用测试机械臂，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片用测试机械臂，包括机身导杆连接板，所述机身导杆连接板上连接有第一连接轴，所述第一连接轴转动连接有第一段臂，所述第一段臂的远离第一连接轴端转动连接有与第一连接轴相平行的第二连接轴，所述第二连接轴连接有第二段臂，所述第二段臂的远离第二连接轴端连接有与第二连接轴相平行的第三连接轴，所述第三连接轴转动连接有第三段臂，所述第三段臂的靠近第三连接轴一端连接有与第三连接轴相垂直的第四连接轴，所述第四连接轴转动连接有测试头固定臂，所述第三段臂的远离第四连接轴端设有顶杆，所述顶杆穿设于第三段臂上且分别与第三连接轴、第四连接轴垂直，所述第一段臂上设有弹力锁紧器。

进一步优选，所述弹力锁紧器包含两个弹力压板，两个所述弹力压板对称设置，两个所述弹力压板之间连接有平衡长条，两个所述弹力压板的远离平衡长条端均设有锁口，两个所述锁口分别用于第一连接轴和第二连接轴的穿设，所述平衡长条的侧边设有与其垂直的偏心轴。

进一步优选，所述弹力压板上下倾斜设置，所述弹力压板的靠近平衡长条端高于锁口端。

进一步优选，所述偏心轴设置于平衡长条的中间下方，所述偏心轴的远离偏心轴端设有第一锁紧把手。

进一步优选，所述第三段臂的靠近第二段臂的侧面设有两个第一轴承固定块，所述第三连接轴的两端分别穿设于两个第一轴承固定块内。

进一步优选，所述第三连接轴的靠近第四连接轴端套设有锁紧块，所述锁紧块固定于第三段臂上，所述锁紧块连接有第二锁紧把手。

进一步优选，所述测试头固定臂的靠近第三段臂侧面设有两个第二轴承固定块，所述第四连接轴的两端分别穿设于两个第二轴承固定块内。

进一步优选，所述顶杆与第三段臂螺接，所述顶杆的远离测试头固定臂端设有旋转把手。

有益效果：本发明的芯片用测试机械臂，通过第一段臂、第二段臂和第三段臂的上下转动，通过测试头固定臂的前后转动，可实现对测试头固定臂的前后、左右和上下移动及一定角度的旋转，进而实现对芯片测试头的前后、左右和上下移动及一定角度的旋转，实现对不同位置或角度的芯片的测试，适用性广泛；该测试机械臂的结构简单，易于加工制造，且生产成本低，维护保养容易；且方便人工手动调节，有利于中小型企业的使用和发展。

附图说明

图1为本发明实施例所公开的芯片用测试机械臂的一个角度轴测结构示意图；

图2为本发明实施例所公开的芯片用测试机械臂的另一个角度轴测结构示意图；